集成电路测试技术四.pdfVIP

  • 18
  • 0
  • 约2.66万字
  • 约 10页
  • 2019-12-08 发布于广东
  • 举报
课程介绍 教材:《超大规模集成电路测试—— 数字、存储器和混合信号系统》 集成电路测试技术 Michael L. Bushnell等编著 电子工业出版社出版 参考书: 1、《数字系统故障诊断及可靠性设计》 杨士元著 清华大学出版社 雷鑑铭 2 、《数字集成电路与嵌入式核系统可测性设计》Alfred L. Couch 等著 中国电力出版社出版

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档