SPC统计过程控制的应用知识.ppt

A、收集数据 B、建立控制限 C、统计上是否 受控的解释 D、为了持续控制 延长控制限 使用不合格品率控制图（p图）的步骤 Ａ 步骤 收集数据 A1、选择子组的容量、频率及数量； A2、计算每个子组內的不合格品率； A3、选择控制图的坐标刻度； A4、将不合格品率描绘在控制图上。 使用不合格品率控制图（p图）的步骤 A1、选择子组的容量、频率及数量 因控制限是基于近似的正态分布，故使用的样本容量应该使np≥5。 子组容量： 用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量(例如50～200)以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品； 分组频率： 应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间隔短则反馈快，但与大的子组容量的要求矛盾； 子组数量： 要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。 使用不合格品率控制图（p图）的步骤 材料经热处理后其硬度公差要求为57±2HRC，现有一批材料经抽样得其硬度的过程分布和能力为Xbar±3σ=57.4±1.40，请计算Cp以及过程能力指数Cpk分别为多少？ 案例练习 6 LSL USL P p - = 双边公差的过程测量指数 Pp:性能指数。过程性能与由公差表示的最大可允许的变差进行比较。该指数反映了过程是否能够很好地满足变化要求。计算公式如下： 6S LSL USL - = USL U