TS16949五大工具培训知识.ppt

MSA;前 言;一. 何谓测量系统; 一般过程 ;二. 为什么要对测量系统进行分析; Б2 观 =Б2实 +Б2测 由于变差源的作用结果,因此: Б2 观 Б2实 ;从另一角度能力指数CP看: ∵CP= ，将此式转换后得: (CP ) -2观= (CP ) -2实+ (CP ) -2测 事实上,由于测量系统变差源的作用结果， ∴CP观 CP实 例如: CP测为2, CP实必须大于或等于1.79时，才得到CP观为1.33 只有在测量过程没有任何变差源作用时, CP观= CP测,这是不可能的。 ; 再比如:当RR为10%时，CP实为2, CP???为1.96 RR为30%时，CP实为2, CP观为1.71 RR为60%时，CP实为2, CP观为1.28 可以看出， CP观由1.96到1.28之间的区别就是由于测量系统的不同所造成。 为此，我们要对测量系统进行分析，要识别测量系统的普通原因和特殊原因，以便采取决策措施，使测量系统的变差减小到最小程度，使得测量系统观测到的过程变差值尽可能接近和真实地反映过程的变差值。这就要求，测量系统的最大(最坏)的变差必须小于过程变差或规范公差。;三.对测量系统分