X射线产生与X射线基本性质.pptVIP

五、X射线的探测与防护 1、X射线的探测 X射线通过某些物质时，可产生照相效应而使照相底片乳胶感光（照相法），可产生荧光效应而使某些晶体发光（荧光法），可产生电离效应而使某些气体电离（电离法），通常利用这些来探测X射线的存在并测其强度。 2、X射线的生理作用与防护 X射线对生命有机体有一定的杀伤作用。当辐射剂量超过临界辐射量——每天0.05伦琴时，便将产生显著的有害影响。 软X射线的危害性要比硬X射线的危害大的多。因为硬X射线波长短，穿透能力强。而软X射线穿透能力弱，易被吸收。 可采用铅屏或戴铅玻璃眼镜、室内通风及定期检测。 作业 已知，钼的K吸收限λk＝0.619?，钴的K激发电压Uk＝7.71kV，分别计算计算钼的K激发电压和钴的K吸收限。 计算空气对CrKα的质量吸收系数.（假设空气中只有质量分数80%和20%的氧，空气的密度为1.29×10－3g/com3),已知N的μm=23.9cm2/g，O的μm=36.6cm2/g. 3. 对波长为1.54?的X射线，铝的吸收系数μ＝1.32×104m-1，铅的吸收系数μ＝2.61×105m-1，要和1mm厚的铅层得到同样的防护效果，铝板的厚度应为多大？ * * 俄歇电子的能量： EKLL=EK-EL-EL 被电离的电子 跃迁的电子 变成Auger电子的电子 俄歇电子的能量只取决于原子本身，而与激发光源无关，因此一般的俄歇电子谱仪采用电子束作为光源(电子束能量高，且容易聚焦，因此空间分辨率高)。 各种元素的俄歇电子能量 平均俄歇电子产额随原子序数的变化 X荧光产额ω与俄歇电子产额α之间满足 α+ω=1 一般地，较轻的元素，产生俄歇电子的几率较大，而较重的元素则产生X荧光的几率较大。 14号以前的元素，采用KLL俄歇电子 14-42：LMM俄歇电子 42号以后的元素：MNN或MNO俄歇电子 一般来说，俄歇电子谱仪对轻元素的分析更为有效。 也是一种针对样品最表面的元素进行分析。 1例Cr-Mo-V合金的俄歇电子图谱 (括号内为电子能量eV) （3）热效应 当X射线照射到物质上时，可导致电子运动速度或原子振动速度加快，部分入射X射线的能量将转变为热能，从而产生热效应。 入射X射线 强度I0 散射X射线 相干 非相干 电子 反冲电子 俄歇电子 光电子 荧光X射线 透射X射线衰减后的强度I 热能 康普顿效应 光电效应 俄歇效应 总结：X射线对物质的吸收主要有两部分：一是散射，二是转化为电子及荧光辐射。另外还有少量的热能。由于这种吸收而使透射过的X射线强度大大衰减。 3、X射线的衰减规律 X射线照射物质后，与物质作用产生散射与真吸收，强度将被衰减。X射线衰减主要是由真吸收造成的，散射只占很小的一部分。在研究X射线的衰减规律时，一般都忽略散射部分的影响。 （1）X射线的衰减规律 X射线穿过物体时强度的减弱（dI)与原始X射线的强度（I）和穿过物体的厚度（dx)成正比。即：dI＝－ μIdx 则： Ix=I0exp(- μx) I0——入射光的强度； Ix——透射光的强度; x——物质厚度(cm)； Ix/I0 ——透射系数; μ ——衰减系数（cm-1)。 由公式可知，X射线通过物质时，按指数规律迅速衰减。 （2）吸收系数 a.线吸收系数 X射线强度的衰减是通过散射和吸收两种方式进行的。所以有： μ＝σ+τ， μ ——衰减系数;σ——散射系数；τ——吸收系数。由于散射很小，σ常被忽略，故： μ＝τ 因此， 以后通常将μ称为线吸收系数。 当x=1cm时， μ＝ln(I0/I1) 因此，线吸收系数μ的定义为：沿穿越方向单位长度（1cm）时X射线强度衰减的程度。 实际是单位时间内单位体积（单位面积×单位长度）物质对X射线能量的吸收，所以， μ与物质的种类、密度和X射线的波长均有关。 对一定元素和一定波长的X射线，μ为常数。 b.质量吸收系数 由于吸收系数μ随物质的密度而变化，为此引入质量吸收系数。令： μm= μ/ρ μm——质量吸收系数; ρ为物质的密度(g/cm3)。 因此， μm的定义为：X射线通过质量为1克的物质时的衰减程度。 μ m不随物质的密度而变化，故在实验室常被采用。 μ m也是对一定元素及一定波长的X射线为常数。 质量衰减规律变为：Ix=I0exp(- μm ρx) c.复杂物质的质量吸收系数 当物质不是单一元素，而是由两种以上元素组成的复杂物质（化合物、固溶体或机械混合物等）时，其吸收由所照射物质原子本身的性质决定，而与原子间的结合方式无关。其质量吸收系数如下计算： μm＝W1 μm1+W2 μm2+