时间频率和相位的测量概括.pptVIP

2、当 fl继续升高时，fx-fl 变大，差频又进入音频区，音调先是低沉而变尖锐直到差频大于l6KHz听不出。上述过程可用下图表示。 图5.6－8 零差频点识别过程 第五章 时间、频率和相位的测量 二、比较法测频 2．差频法测频 纵轴表示差频绝对值大小，V 形线为差频随 fl 变化的情况，虚线表示声音强度。 随着 fl 单调变化，在两个对称的可闻声区域中间即为零差频点( fx=fl ) 但是由于人耳不能听出频率低于20 Hz的声音，所以用耳机等发声设备来判断零差频点时有一个宽度 △f≈40Hz 的无声哑区，使判断误差很大，必须用电表或电眼来作辅助判别。 图5.6－8 零差频点识别过程 第五章 时间、频率和相位的测量 二、比较法测频 2．差频法测频 以电表为例，当差频较大时，表针来不及随差频频率摆动，只有当差频小于几赫芝时，表针摆动才跟得上差频信号的变化，当差频为零时表针又不动。图中m 形状线表示电表偏转随 fl 变化的情况。 在电表两次偏转中间的静止点就是零差频点，这时哑区可以缩小到零点几赫芝。这个哑区是差频法测量频率的误差来源之一。 图5.6－8 零差频点识别过程 第五章 时间、频率和相位的测量 二、比较法测频 2．差频法测频 以上是m=n=l 两信号基频差频的情况，如果只是利用基波与基波之差频，那么标准频率源的变化范围就应与被测频率可能的范围相一致。 频率变化范围极宽的振荡器难以达到很高的稳定度，而且频率调谐的读数精确度也很难做到足够高。 为此要考虑m≠n≠l的情况。当连续调节时将出现许多零差频点，即出现很多满足式nfx±mfl = 0的点，在耳机中表现为一系列强度不同的吱喱吱喱声。 第五章 时间、频率和相位的测量 二、比较法测频 2．差频法测频 第五章 时间、频率和相位的测量 二、比较法测频 2．差频法测频 由于上述诸多零差频点所对应的 m、n 往往难以确定。 因此需要辅以粗测设备(如谐振式频率计等)，以便在精确测量之前，首先对被测频率做到心中有数。基于上述差频原理制成的实用的外羞式频率计框图如下图。 为测量精确，对本地振荡频率 fl 稳定度和准确度要求较高。fl 频率覆盖范围并不宽，主要靠它的m次谐波与被测频率混频，使被测频率 fx 的范围增大。 为读数方便，本振的刻度盘直接用m刻度，晶振用来校正它的刻度。输入电路为一耦合电路，把待测信号耦合到混频器。 图5.6－9 实用外差频率计框图 第五章 时间、频率和相位的测量 二、比较法测频 2．差频法测频 测量时: 1、先用粗测频率计测出的大致数值，把开关K打在“测量”位置，调本振度盘在粗测值附近找到零差频率点。 第五章 时间、频率和相位的测量 二、比较法测频 2．差频法测频 2、把开关打向“校准”位置，用晶振谐波与本振谐波混频，由差频点校正本振频率读数是否准确(这时应调到离被测频率最近的校正点)。 如果刻度盘刻度不准，则微调指针位置使其读数准确。 经上述校准后就可把开关再打向“测量”位置进行精测。只要在粗测值附近调节 fl 使得到零差频，刻度盘读数就是被测频率的精确测量值。 第五章 时间、频率和相位的测量 二、比较法测频 2．差频法测频 差频法测量误差来源有三： ①晶振频率误差。在测量过程中先用晶振频率 fc 校正本振频率刻度，如晶振频率存在误差 △fc ，将造成测量误差。 ②偏校误差。由于 fc 是固定的，校正只能在 fc 的谐波即频率为 nfc 的若干个离散点进行，而被测频率一般不等于nfc。这将造成称之为偏校的误差。显然，晶振频率越低，校正点间隔越小，测量精确度越高。在实际测量时校正应在最靠近 fx 的校正点进行。 第五章 时间、频率和相位的测量 二、比较法测频 2．差频法测频 差频法测量误差来源有三： ③零差指示器引起的误差。由于零差指示器灵敏度的限制及人的感觉器官(耳、眼等)性能的不完善也造成测量误差。 例如放大器的低频失真，使极低的差频信号有严重的衰减以至推动不了后级指示器；人耳或放声设备的哑区限制等，都可能引起几十赫芝的绝对误差。 第五章 时间、频率和相位的测量 二、比较法测频 2．差频法测频 为有效地减小差频法测频的误差，可采用改进的差频法测频，即双重差拍法。 它能避免差频法由于听觉不到哑区的频率变化所引起的误差。 第五章 时间、频率和相位的测量 二、比较