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《材料分析测试技术》试卷（ 答案） 一、 填空题： （20 分，每空一分） 1. X 射线管主要由 阳极 、 阴极 、和 窗口 构成。 2. X 射线透过物质时产生的物理效应有： 散射 、 光电效应 、 透射 X 射线 、 和 热 。 3. 德拜照相法中的底片安装方法有： 正装 、 反装 和 偏装 三种。 4. X 射线物相分析方法分： 定性 分析和 定量 分析两种；测钢中残余奥 氏体的直接比较法就属于其中的 定量 分析方法。 5. 透射电子显微镜的分辨率主要受 衍射效应 和 像差 两因素影响。 6. 今天复型技术主要应用于 萃取复型 来揭取第二相微小颗粒进行分析。 7. 电子探针包括 波谱仪 和 能谱仪 成分分析仪器。 8. 扫描电子显微镜常用的信号是 二次电子 和 背散射电子 。 二、 选择题： （8 分，每题一分） 1. X 射线衍射方法中最常用的方法是（ b ）。 a．劳厄法； b．粉末多晶法； c．周转晶体法。 2. 已知 X 光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（ b ）。 a．Co ；b. Ni ；c. Fe。 3. X 射线物相定性分析方法中有三种索引，如果已知物质名时可以采用（ c ）。 a．哈氏无机数值索引 ；b. 芬克无机数值索引； c. 戴维无机字母索引。 4. 能提高透射电镜成像衬度的可动光阑是（ b ）。 a．第二聚光镜光阑 ；b. 物镜光阑 ；c. 选区光阑。 5. 透射电子显微镜中可以消除的像差是（ b ）。 a．球差 ；b. 像散 ；c. 色差。 6. 可以帮助我们估计样品厚度的复杂衍射花样是（ a ）。 a．高阶劳厄斑点 ；b. 超结构斑点； c. 二次衍射斑点。 7. 电子束与固体样品相互作用产生的物理信号中可用于分析 1nm 厚表层成分的 信号是（ b ）。 a．背散射电子； b.俄歇电子 ；c. 特征 X 射线。 8. 中心暗场像的成像操作方法是（ c ）。 a．以物镜光栏套住透射斑； b．以物镜光栏套住衍射斑； c．将衍射斑移至 中心并以物镜光栏套住透射斑。 三、 问答题： （24 分，每题 8 分） 1. X 射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么？ 答： X 射线衍射仪法中样品是块状粉末样品， 首先要求粉末粒度要大小 适中，在 1um-5um 之间；其次粉末不能有应力和织构；最后是样品有一 个最佳厚度（ t = 2. 分析型透射电子显微镜的主要组成部分是哪些？它有哪些功能？在 材料科学中有什么应用？ 答：透射电子显微镜的主要组成部分是：照明系统，成像系统和观察记 录系统。 透射电镜有两大主要功能，即观察材料内部组织形貌和进行电子衍 射以了解选区的晶体结构。分析型透镜除此以外还可以增加特征 X 射线 探头、二次电子探头等以增加成分分析和表面形貌观察功能。改变样品