透射电子显微镜样品制备.pptxVIP

透射电子显微镜样品制备技术;前言;透射电子显微镜样品的分类;透射电镜制样设备;一、粉末样品的制备;粉碎研磨法;粉碎研磨法;支持膜;支持膜;树脂包埋法;包埋后的粉末样品(光学显微镜观测);超薄切片后离子减薄的结果;二、块体样品;二、块体样品;块体样品制备工艺示意图;80μm;（二）塑性样品制样流程示意图（金属及其合金等） ;1. 切割;2. 单面抛光;2. 单面抛光;2. 单面抛光;3. 凹坑;3. 凹坑;3. 凹坑;3. 凹坑;3. 凹坑——钉轮直径和样品深度的关系;钉轮直径和钉薄深度的关系;不同的钉轮直径可获得的钉薄深度不同;钉薄前样品的最佳厚度;凹坑——小结;凹坑后的样品 ;4. 离子减薄;4. 离子减薄;4. 离子减薄;4. 离子减薄;4. 离子减薄;4. 离子减薄——影响样品制备的因素;离子减薄示例——截面样品;减薄前表面状态不好，造成的损伤;三、薄膜样品 ;三、薄膜样品;截面样品专用胶;三、薄膜样品——截面样品的制备;截面样品的制备;三、薄膜样品——截面样品的制备; 有些材料不能直接制成薄膜样品，往往采用复型技术把材料表面复制下来，制成复型膜，在电镜上观察。 ;一级复型;碳膜一级复型是一种正复型，它与塑料一级复型的区别是： ? 1.碳膜复型的厚度基本上相同，而塑料复型的厚度随试样位置 而异。 ?2.塑料复型不破坏样品；而碳膜复型破坏