实验一基本门电路逻辑功能测试.pptxVIP

实验一 基本门电路逻辑功能测试 实验二 中规模组合逻辑电路应用（一）实验三 中规模组合逻辑电路应用（二）实验四 利用EDA软件进行组合逻辑电路的设计实验五 触发器设计及应用 实验六 计数器的设计及应用 实验七 555定时器的应用 实验八 实验考试实 验 内 容数字电子技术实验实验一 基本门电路逻辑功能测试一、实验目的1、熟悉基本门电路的逻辑功能及测试方法2、掌握用SSI设计组合逻辑电路的方法3、用实验验证所涉及电路的逻辑功能二、实验仪器及器材1、数字逻辑实验台2、集成块74LS00、74LS32、74LS86各一片3、导线若干实验一 基本门电路逻辑功能测试三、实验原理 74系列门电路芯片外形如图1-1所示，管脚编号方法：管脚向下半月形缺口向左，从下排自左向右顺序编号，上排自右向左顺序编号。1. 74系列芯片的管脚读法图1-1 74系列芯片的管脚编号方法图 实验原理2.逻辑电路的分类：按集成度分：小规模（SSI）：每片1—10个器件， 中规模（MSI）：每片10—100个器件 大规模（LSI）：每片数千个器件 超大规模（VLSI）：每片10000器件按电路结构和工作原理分：组合逻辑电路：无记忆，输出与以前状态无关时序逻辑电路：有记忆，输出与以前状态有关实验原理3. 组合逻辑电路的设计组合电路：输出仅由输入决定，与电路当前状态无关；电路结构中无反馈环路（无记忆）