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物质的结构分析 进行物质结构分析方法主要有3大类 各种衍射技术 直接和精确测定分子和晶体结构的方法 各种光谱技术 红外光谱、激光拉曼光谱、紫外光 在各种状态测定结构，如液体 分子模拟、量子力学计算 现代分析测试 材料的结构分析 衍射方法 X射线衍射 （X-Ray Diffraction， XRD） 粉末衍射 微区、薄膜 高温、常温、低温衍射仪 四园单晶衍射 电子衍射（Transmission Electron Microscopy， TEM） 中子衍射 穆斯堡谱 Γ射线衍射 物质的结构分析 测定物质结构的本质 某种波，如微波、红外光、X射线； 或某种粒子,如光子、电子、中子等 试样 改变试样中原子 或分子的核或 电子的某种能态 试样中原子解离 或电子电离 入射波（粒子）的 散射、衍射或吸收 产生与入射波长 不同的波或粒子 得到物质结构 的信息 10 10 10 10 10 10 10 10 X射线衍射 可见和 拉曼光谱 9 7 5 3 1 -1 -3 -5 Wavenumbers 能量增加 紫外 可见 近红外 远红外 微波 顺磁共振 无线电波 Wavelength in microns 核转变 电子跃迁 分子振动 10 10 10 10 10 10 10 10 跃迁 -5 -3 -1 1 3 5 7 9 转动 电磁光谱 核磁共振 红外光谱 紫外 紫外 紫外和 拉曼光谱 X射线 XRD分析方法 X-射线物理学基础 X-射线与物质的相互作用 X-射线衍射分析原理 X-射线衍射分析应用 XRD图谱的物相鉴定 X射线物理学基础 X射线的产生 德国科学家伦琴，1895年 使相片底片感光，并有很强的穿透力 X射线的应用 科学研究 (XRD) 医疗（透视） 技术工程 (无损探伤) 衍射分析技术的发展 与X射线及晶体衍射有关的部分诺贝尔奖获得者名单 X射线物理学基础 X射线的本质 电磁波，波长较短，一般在0.05－0.25nm; 劳厄，1914年，晶体衍射实验； X射线具有波粒二相性 衍射：可见光 一定能量的光量子流 h:普朗克常数＝6.626－34J•S E:能量； P：动量 X射线物理学基础 X射线物理学基础 X射线的产生 原子内的电子分布在一系列量子化的壳层上，按K、L、M、N……递增； 最内层的能量最低 某层电子的能量 当冲向阳极靶的电子具有足够能量将内层电子击出成为自由电子（二次电子）； 原子：高能的不稳定 自发向稳态过渡： X射线物理学基础 X射线的产生 K层出现空位， K激发态； L层跃迁至K层， L激发态； ΔE=EL-EK, 能量差以X射线光量子的形式辐射出来；Kα L层有能量差别很小的亚能级， Kα1、 Kα2 特征X射线 X射线物理学基础 靶 试样 X射线物理学基础 物质的结构分析 测定物质结构的本质 某种波，如微波、红外光、X射线； 或某种粒子,如光子、电子、中子等 试样 改变试样中原子 或分子的核或 电子的某种能态 试样中原子解离 或电子电离 入射波（粒子）的 散射、衍射或吸收 产生与入射波长 不同的波或粒子 得到物质结构 的信息 多晶粉末衍射分析 multiple crystal powder diffraction analysis 在入射X光的作用下，原子中的电子构成多个X辐射源，以 球面波向空间发射形成干涉光； 强度与原子类型、晶胞内原子位置有关； 衍射图：晶体化合物的“指纹”； 多晶粉末衍射法：测定晶体的结构； 单色X射线源 样品台 检测器 X射线衍射方程 晶体的点阵结构是一致互相平行且等距离的原子平面 衍射的基础——晶体的周期性和对称性 衍射光束服从反射定律 反射光线在入射平面中，反射角等于入射角 则这组晶面所反射的X射线，只有当其光程差是X射线波长的整数倍时才相互增强，出现衍射 2dhklsinθ＝nλ 2dhklsinθ＝λ 光程差 BD＋BF＝2dhklsin θ ＝nλ; 只有当d、 θ和 λ满足布拉格方程式时才能发生衍射。 d:面间距； θ：入射线（反射线）与 晶面的夹角； λ：入射光的波长，Cu靶： λkα1=1.54060, λkα2=1.54443； n：整数，反射的级数