第八章--光纤传感器.pptxVIP

第8章 光纤式传感器;第8章 光纤式传感器;第8章 光纤式传感器;第8章 光纤式传感器;第8章 光纤式传感器;8.1 光纤及其传光原理; 8.1.1 光纤的结构;图8.1;8.1.2 光纤的传光原理;8.1.2 光纤的传光原理;8.1.2 光纤的传光原理;8.1.2 光纤的传光原理;8.1.2 光纤的传光原理;图8.3;8.1.3 光纤的主要参数;8.1.3 光纤的主要参数;8.1.3 光纤的主要参数;8.1.3 光纤的主要参数;8.1.3 光纤的主要参数;8.1.3 光纤的主要参数;8.1.3 光纤的主要参数;8.1.3 光纤的主要参数;8.1.3 光纤的主要参数;8.1.3 光纤的主要参数;8.2 光纤传??器的组成及分类;8.2.1 光纤传感器的基本组成;8.2.2 光纤传感器的分类;8.2.2 光纤传感器的分类;8.2.2 光纤传感器的分类;8.2.2 光纤传感器的分类;图8.4;8.3 光调制方式;8.3 光调制方式;8.3 光调制方式;8.3.1 强度调制;8.3.1 强度调制;8.3.1 强度调制;8.3.1 强度调制;8.3.1 强度调制;8.3.1 强度调制;8.3.1 强度调制;8.3.1 强度调制;8.3.1 强度调制;图8.5;图8.6;图8.7;8.3.2 波长调制;8.3.2 波长调制;图8.8;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;8.3.3 相位调制及干涉测量;光纤相位调制器;图8.9;迈克尔逊干涉仪;马赫―泽德干涉仪;萨格奈克干涉仪;法布里-珀罗干涉仪;8.3.4 频率调制;8.3.4 频率调制;8.3.4 频率调制;8.3.4 频率调制;图8.10;光纤多普勒流速测量系统;8.3.5 偏振调制;8.3.5 偏振调制;8.3.5 偏振调制;8.3.5 偏振调制;8.3.5 偏振调制;8.3.5 偏振调制;8.3.5 偏振调制;法拉第磁光效应测磁场;图8.11;图8.12;光弹效应;8.4 光纤式传感器应用举例;8.4 光纤式传感器应用举例;8.4.1 光纤温度传感器;8.1 光纤传感器的应用;图8-2 热双金属式光纤温度开关 1 遮光板； 2 双金属片 ;例8-3 透射型半导体光纤温度传感器;这个性质反映在半导体的透光性上则表现为：当温度升高时，其透射率曲线将向长波方向移动。若采用发射光谱与半导体的λg（t）相匹配的发光二极管作为光源，则透射光强度将随 着温度的升高而 减小，即通过检 测透射光的强度 或透射率，即可 检测温度变化。;;例9-4 膜片反射式光纤压力传感器;光纤被夹在一对锯 齿板中间，当光纤 不受力时，光线从 光纤中穿过，没有 能量损失。当锯齿 板受外力作用而产 生位移时，光纤则发生许多微弯，这时在纤芯中传输的光在微弯处有部分散射到包层中. ;原来光束以大于临界角θC的角度θ1在纤芯内传输为全反射；但在微弯处θ2θ1，一部分光将逸出，散射入包层中。当受力增加时，光纤微弯的程度也增大，泄漏到包层的散射光随之增加，纤芯输出的光强度相应减小。因此，通过检测纤芯或包层的光功率，就能测得引起微弯的压 力、声压，或检测 由压力引起的位移 等物理量。;例9-6 光弹式光纤压力传感器;从光源发出的光经起偏器后成为直线偏振光。当有与入射光偏振方向呈45o的压力作用于晶体时，使晶体呈双折射从而使出射光成为椭圆偏振光， 由检偏器检测出与 入射光偏振方向相 垂直方向上的光强 ，即可测出压力的 变化。其中1/4波长 板用于提供一偏置，使系统获得最大灵敏度。 ;例9-7 球面光纤液位传感器 ;光由光纤的一端导入,在球状对折端部一部分光透射出去,另一部分光反射回来,由光纤的另一端导向探测器。反射光强的大小取决于被测介质的折射率。被测介质的折射率与光纤折射率越 接近,反射光强度越 小。显然,传感器处 于空气中时比处于 液体中时的反射光 强要大。 ;例9-8 斜端面光纤液位传感器;例9-9 单光纤液位传感器;当光纤处于空气中时，入射光的大