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材料显微结构分析方法;X光化学分析 ;四. X光荧光定量分析; (1) 基本参数法：理论计算，由数学模型及计算机编程。 ;：混合物中第i 元素重量百分比 ;有n种元素，显然有;试样有A,B,C三元素， ;求第 i 元素的Ri ;求出各： ;对待测试样及各纯A,B,C作XRF， ;VI. 电子探针X射线微区分析 ;一. EPMA定量分析 ; A元素特征谱的总强度应有两部分组成： ;设k为试样中A元素X射线强度I*与 ;则有：;若假设不考虑吸收及荧光激发， ;or ;以纯化合物(非纯元素wt%已知)为标样，更有效！ ;（二）原子系数校正因子KZ ： ;No 阿佛加德???常数 ; 可沿路径积分求n ，但对能量积分更方便。 ;则该元素原子数量为： ;以Ro表示纯元素的背散射系数(可查）, ;显然;假设： ;So 的经验公式： ;求： ;(三) 吸收校正因子KA：;总强度Ip:;;对于：; 求：;（四）荧光校正因子KF: ;：电离分数 ;X,Y:是与take-off Angle
有关的吸收参量 ;f(Ci):ZAF校正因子，
为Ci 的函数。 ;实验、上课安排：;实验计算：
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