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- 2020-04-29 发布于江苏
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脑电数据采集
1. 双击桌面“ Vision Recorder.lnk ”图标,进入到记录软件界面。
2 . 根据实际采用的电极帽,如 32 导的电极帽或 64 导的电极帽,在 “File ”的下拉菜单中
的“Open workspace… ”打开相应的文件“32CAP.rwksp ”或“64CAP.rwksp ”。
3 . 给被试带上电极帽,点击 “ ”,检测电极阻抗值。做脑电事件相关电位要求每个
电极阻抗值在5K 欧姆以下。
4 . 阻抗值通过后,点击“ ”图标,开始监控脑电图,显示波形。
5 . 点击“ ”图标,保存数据。
6 . 实验结束后,点击“ ”图标,停止数据保存。
7 . 点击“ ”图标,关闭波形显示窗口,数据记录完毕。
脑电事件相关电位(ERP )分析
1 双击桌桌“ ”图标,进入分析软件界面。
2 在“File ”的下拉菜单中,点击“New ”选项,在弹出的对话框中设置数据路径:
Raw Files :原始记录数据存储路径,
History Files :随后操作过程存储路径,
Export Files :数据输出后的存储路径。
确定后,保存为一个文件名,下次要调用此数据时,直接在 “File ”的下拉菜单中点击
“Open ”打开所保存的文件即可。原始记录的数据将在左边窗口显示。
3 双击左边窗口书本样下面的“Raw Data ”显示原始数据波形。
4 随后可根据以下步骤分析得到脑电事件相关电位波形
A. 变更参考电极 New Reference :现在的电极帽都是以 FCz 做为参考电极,而实际
分析 ERP 波形时,大部分都是根据 A1A2 做为参考电极(BP 的电极帽 TP9 相当
A1 ,TP10 相当 A2 ),所以根据实际要求进行更换参考电极。
B. 眼电纠正 Ocular Correction :将眨眼或眼动带来的肌电影响进行纠正。
C. 伪迹去除 Raw Data Inspection :去除由于设备或被试动作带来的伪差信号。
D. 滤波 Filters :根据所要分析的信号频率,适当设定波形带宽,滤除不必要的信号。
E. 分段 Segmentation :根据标志将要进行叠加平均的脑电信号提取出来。
F. 基线校正 Baseline Correction
G. 叠加平均 Average
5 变更参考电极:在 “Transformations ”下拉菜单 “Channel Preprocessing ” 中的选择
“New Referece ”,按以下弹出窗口操作:
最后点击完成。
6 眼电纠正:在 “Transformations ”下拉菜单中的选择 “Ocular Correction ”,按以下弹出
窗口操作:
点击“OK ”完成。
7 伪迹去除:在 “Transformations ”下拉菜单中的选择 “Raw Data Inspection ”,按以下弹
出窗口操作:
Manual Inspection :人工伪迹去除,
Semiautomatic Inspection :半自动伪迹去除
Automatic Inspection :全自动伪迹去除
在“Channels ”一栏中,除了两导眼电信号外,应将其余的脑电信号导联全部选择上。
在 “Criteria ”一栏中,设定半自动、自动分析的检测标准。“Gradient(x) ”为两个采样点
梯度变化值; “Max-Min(x) ”为波形变化最大绝对值; “Amplitude ”为波形变化刻度值;
“Low Activity(x) ”为波形最小变化值。
8 滤波: 在“Transformations ”下拉菜单选择“Filters ”,在弹出的窗口中操作:
Low Cutoff :设置低切滤波值,其中 Frequency [Hz ]为频率,Time Constant [s ]为时
间常数,两个参数只要设置其中一个即可,它们可根据 F =1/(2πT)互相转换。
High Cutoff:设置高切滤波值。
Notch:设置交流电滤波,根据所采集数据时的交流电压所
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