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[MSA/SPC] 测量系统分析 本文来自：6sigma 品质网 作者：青云游子 点击 1734 次原文： /viewthread.php?tid=116294 一、目的 为公司各类简单的计量型、计数型量具的测量系统分析提供指导。 二、参考文件 测量系统分析参考手册 第三版 三、术语 1、 测量系统误差模型：本作业指导书采用的误差模型为 S.W.I.P.E 模型，该模型指出测量系统变差来源于以下几大方面：标准（Standard）、零件 （Work）、仪器（I）、人员/程序（Person/Procedure）、环境（E） 2、 测量系统：对测量单元进行量化或对被测的特性进行评估，所使 用的仪器或量具、标准、操作、方法、夹具、软件、人员、环境及假设的集合。 3、 分辨力：测量装置和标准的测量解析度、刻度限制、或最小可检 出的单位。与最小可读单位研究，即通常所说的最小刻度值，但当仪器刻度较粗 略时，允许将最小刻度值估读为原来的一半作为仪器的可视分辨力。 4、 重复性：当测量条件已被确定和定义——在确定的零件、仪器、 标准、方法、操作者、环境和假设之下，测量系统内部的变差。 5、 再现性：传统上将再现性称为 “评价人之间”的变差（AV）。指 的是不同评价人使用相同的仪器对同一产品上的同一特性，进行测量所得的平均 值的变差。但对于 操作者不是变差的主要原因的测量过程，上述说法是不正确 的。ASTM 的定义为：现现性是指测量的系统之间或条件之间的平均值变差。它 不但包括评价人的变 差，同时还可能包括：量具、试验室及环境的不同，除此 之外，还包括重复性。 6、 偏倚：对相同零件上同一特性的观测平均值与真值（参考值）的 差异。 7、 线性：在测量设备预期的工作（测量）量程内，偏倚值的差异。 四、测量系统分析 （一）分析的原则 1、测量系统分析的对象 测量系统分析针对的对象是控制计划中提及的测量系统。 本作业指导书针对的是非破坏性的测量系统分析，关于破坏性的测量系统的分析 见《测量系统分析》参考手册第三版。 2、测量系统分析时机 当出现以下情况时，应进行测量系统分析： 新品试生产时； 测量系统变更时，如新购量具替换控制计划中规定的量具、量具的 校准方法或测量程序发生变化等情况。 3、计量型量具的分辨力 应用 10:1 原则检查测量仪器是否具有足够的分辨力。 所谓 10:1 原则是指仪器的可视分辨力至少应为被测特性公差和过程变差两者之 间较小者的十分之一。 （二）稳定性分析 ① 取得一个样件，并建立参考值。 建立参考值最好能够追溯到相关标准 （如国家标准、二级标准等）。因此，样件 可以送到有资格的外部实验室测试，或用三坐标（CMM）检测仪进行检测。 但如果不能得到上述参考值，那么可以选择一件落在生产测量范围中间的生产件， 并将它指定为偏倚分析的基准件，在实验室内测量该零件，测量次数必须大于或 等于 10 次，并计算读数的平均值，将平均值视为 “参考值”。 ② 每天测量样件三至五次。 ③ 将数据按时间顺序画在 Xbar-R 图上。 ④ 计算控制限，评价是否有不受控或不稳定的情况。 （三）偏倚分析 公司对偏倚进行研究采用的方法是 “独立样件法”。 ① 取得一个样件，并建立参考值。（同上） ② 让一个评价者以正常方式测量样件，测量次数不得少于 10 次。因 质量记录 RL/QR-C0612 《偏倚分析》表格的限制，测量次数最好不超过 15 次。 ③ 实施人员记录下测量的数值，并在 RL/QR-C0612 《偏倚分析》中画 出这些数值的直方图。评审直方图，以确定是否存在特殊原因，若有特殊原因或 异常点，应重新进行试验，若无，继续分析。 ④ 计算读数的平均值。计算公式为： 式中：n 为读数的个数 ⑤