现代材料测试技术(陶文宏)_第一章_x射线衍射分析教案资料.pptVIP

第一章 X射线衍射分析技术;1.1 X射线的发现;X射线的产生;发现：1895年11月5日，德国物理学家伦琴在研究阴极射线时发现。 确定：1912年，德国物理学家劳厄等人发现了X射线在胆矾晶体中的衍射现象，一方面确认了X射线是一种电磁波，另一方面又为X射线研究晶体材料开辟了道路。 最早的应用：1912年，英国物理学家布拉格父子首次利用X射线衍射方法测定了NaCl晶体的结构，开创了X射线晶体结构分析的历史。;与X射线及晶体衍射有关诺贝尔奖获得者;X射线在近代科学和工艺上的应用主要有以下三个方面：1.X射线透视技术 2.X射线光谱技术 3.X射线衍射技术 X射线物相分析法：利用X射线通过晶体时会发生衍射效应这一特性来确定结晶物质的物相的方法，称为~。1924年，建立了该分析方法。 目前，X射线物相分析法作为鉴别物相的一种有效的手段，已在地质、建材、土壤、冶金、石油、化工、高分子、药物、纺织、食品等许多领域中得到了广泛的应用。;X射线应用;1.1 X射线物理学基础1.1.1 X射线的本质; X射线的波粒二象性 ;X射线的波粒两重性;X射线的性质 ;1.1 X射线物理学基础1.1.2 X射线的产生; X射线管是产生X射线的源泉，高压发生器及其附加设备给X射线管提供稳定的光源，并可根据需要灵活调整管压和管流。;1.1 X射线物理学基础1.1.2 X射线的产生;3. X射线的产生--装置;;3. X射线的产生--装置;3. X射线的产生--装置;3. X射线的产生--装置;3. X射线的产生--装置;3. X射线的产生—条件;1.1 X射线物理学基础1.1.3 X射线谱;1.1 X射线物理学基础1.1.3 X射线谱;;1.1 X射线物理学基础1.1.3 X射线谱—连续谱;连续谱的产生机理;1.1 X射线物理学基础1.1.3 X射线谱; X射线谱--特征谱;特征谱;特征X射线产生的根本原因是原子内层电子的跃迁 特征X射线的相对强度是由各能级间的跃迁几率决定的，另外还与跃迁前原来壳层上的电子数多少有关。 特征X射线的绝对强度随X射线管电压、管电流的增大而增大。;特征谱;1.1 X射线物理学基础1.1.4 X射线与物质的相互作用;X射线与物质的相互作用;X射线与物质的相互作用;相干散射;相干散射特点;不相干散射(Compton－Wu效应) ;不相干散射特点;吸收;吸收 ;吸收;1.1 X射线物理学基础1.1.4 X射线与物质的相互作用;1.1 X射线物理学基础1.1.4 X射线与物质的相互作用;1.1 X射线物理学基础1.1.4 X射线与物质的相互作用;应 用;;;;1.1 X射线物理学基础1.1.5 X射线的探测与防护;X射线的生理作用及安全防护 ;习　题　一;1.2 X射线衍射原理1.2.1 晶体对X射线的衍射及布拉格方程;两列波频率一致，振动方向相同，相位差固定，则会发生干涉。 光程差是波长整数倍，则增强；是波长1/2，则抵消（削弱）。;劳厄方程;第二章 X射线衍射方向;第二章 X射线衍射方向;第二章 X射线衍射方向;1.2 X射线衍射原理1.2.1 晶体对X射线的衍射及布拉格方程;1.2 X射线衍射原理1.2.1 晶体对X射线的衍射及布拉格方程;1.2 X射线衍射原理1.2.1 晶体对X射线的衍射及布拉格方程;;1.2 X射线衍射原理1.2.2 X射线衍射束的强度;结构因子（Fhkl） 结构因子是用来表征单胞的相干散射与单电子散射之间的对应关系。即： ;多重性因子（J） 在多晶体衍射中同一晶面族｛HKL｝各等同晶面的面间距相等，根据布拉格方程，这些晶面的2θ衍射角都相同，因此，同族晶面的反射强度都重叠在一个衍射圆环上。把同族晶面｛HKL｝中的等同晶面数J称为衍射强度的多重性因子。 ;角因子（PL） 它是由两部分组成： 一部分是由非偏振的入射X射线经过单电子散射时所引入的偏振因子P＝（1＋cos22θ）/2 ； 另一部分是由衍射几何特征而引入的洛伦兹因子L＝1/2sin2θcosθ。所以，角因子又称为洛伦兹－偏振因子。;吸收因子 对衍射仪来说，当θ角小时，受到入射线照射的样品面积大，而透入的深度浅；当θ角大时，照射的样品面积小，但是透入的深度较大。净效果是照射的体积保持一样，即A（θ）与θ无关。所以在计算相对强度时A（θ）可略去。 ;温度因子(D) 晶体中的原子普遍存在热运动。通常所谓的原子坐标是指它们在不断振动中的平衡位置。随着温度的升高，其振动的振幅增大。这种振动的存在增大了原子散射波的位相差，