方块电阻测量方法.docVIP

一、检验项目:纳米银线导电膜方块电阻 二、定 义:利用四探针法在一定的压力之下测得的面电阻值。 三、适用范围:本标准检验方法适用于纳米银线导电材料方阻的测量。 四、目 的:测量纳米银线导电材料的方阻以判定其品质。 五、检验方法: Ⅰ、原理及方法 ※方法一 1. 样品准备:SNW Film 2. 使用装置:四探针测试头、导线、万用表、稳压电源 3. 测量原理 a 给四探针测试头两探针施加 DC 1V电压,另外两探针接万用表直流电流挡,如图 2 b 依公式算出方块电阻 计算公式: R S =2π*V/(ln2*I R S :方块电阻 Ω/□ V :施加的电压 I :测得的电流 注意:探头的表面弧度为 SR0.9mm 探头压力 0.45±0.15N 或 50±15gf 探头间距 3mm ,如图 1 图 1 图 2 4. 操作步骤: a Film 按 TD*355mm切割材料 b 将稳压电源调至 ON ,电压调至 1V c 将稳压电源正极接至探针一端、负极接至探针另一端,如图 d 将万用表置直流电流档,一表笔接至探针一端,一表笔接至探针另一端,如 图 e 将试片有效区域等距分成 N 点,开始测试并记录数值。 f 将所测得数值输入表(一 ,计算其方阻。 ※方法二 1. 样品准备:SNW Film 2. 使用装置:方阻仪 3. 操作步骤: a Film 按 TD*300mm切割 b