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测定System 分析 (MSA) 方法论 Defin Measure Analyze Improve Contro e l q Measure 概要 q Process Map 特性要因图 q Project Y q FDM q 基础统计 q 测定System分析 q Six Sigma 测度 q 工程能力分析 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure 测定System分析- 2 Rev 2.0 测定System分析 qq 学习目标学习目标 1. 理解与测定System评价相关的用语 2. 理解测定System评价基准及方法 - 评价指标 - 评价步骤 - 标本选定 - 利用Minitab的分析 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure 测定System分析- 3 Rev 2.0 MSA 概要 q 测定 为了显示某物体的特性，给物体赋与数值。 - Eisenhart, C.(1963) q 测定System 被赋与的数值叫测定值(Measurement Value)，为得到测定值的设备叫仪器或 Gage，并步骤、仪器及其它设备、Software 、 测定者等为得到测定值而使用 的全部叫测定System . q 测定System分析 l MSA(Measurement System Analysis) l 为了确保DATA的信赖性，评价或检定测定System. l 为了确认改善对象Process当前能力的DATA收集前， 先确认DATA是否可信。 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure 测定System分析- 4 Rev 2.0 测定System误差 q 测定System误差或变动的类型 l 位置(Location)或平均 - 偏离(Bias) - 直线性(Linearity) - 稳定性(Stability) l 宽度或散布 - 再现性(Repeatability) - 反复性(Reproducibility) Proprietary to Samsung Electronics Company Measure 测定System分析- 5 Rev 2.0 测定System误差 q 偏离(Bais) 意味着观测测定平均和基准值间的偏差。 偏离又叫正确性。 基准值 观测平均 Reference value Observed Average 测定值的 平均值 偏离 真值 Proprietary to Samsung Electronics Company Measure 测定System分析- 6 Rev 2.0 测定System误差 q 直线性 仪器的全体测定可能范围内的倾斜差异。 观测值