粒子计数效率和粒径限制.pdf

附录 B （资料性） 粒子计数效率和粒径限制 B.1 计数效率 凝聚粒子计数器的计数效率主要受粒径的影响，在一定程度上也受粒子成分的影响。 凝结液体为水时，粒子成分为非常疏水物质的偶然情况下，计数效率会下降。 系统测量纳米尺度粒子浓度的计数效率， 应落在图 B.1 中的阴影区内。 规定的纳米尺度 粒径的计数效率为 50% （D ）的虚线，就是这个性能合格区的中心。 X 是 D 除以 D （D/D ） 50 50 50 的比值，其区域包括了标准化后纳米尺度粒径比值为 X ±10%的容差带，就是图 B.1 所示的 X=1.1 到 X=0.9 的范围。该图标出了标准化粒径± 10%容差范围内粒子最低和最高合格计数效 率。还标出了 X=5 时，计数效率至少应为 85%，X=0.5 时，计数效率应 25%。计数效率测量 应以蔗糖粒子或银粒子作为标准粒子。 若 CPC的计数效率曲线落在图 B.1 阴影部分的右侧， 则不应用于纳米尺度粒子浓度的测 量或验证。 若曲线落于阴影部分的左侧， 可用 B.2 所述的粒径限制器使计数效率降低。 这样， 调整后的 CPC计数效率是未调整前 CPC的计数效率与粒径限制器效率的乘积。 示例： X 标准化后的粒径， D/D50 Y 计数效率， %。 示例： D50 = 5 nm X 0.5 0.9 1 1.1 5 D, nm 2.5 4.5 5 5.5 25 示例： D50 = 10 nm X 0.5 0.9 1 1.1 5 D, nm 5 9 10 11 50 示例： D50 = 50 nm X 0.5 0.9 1 1.1 5 D, nm 25 45 50 55 250 图 B.1 所选仪器计数效率的合格范围 粒径限制（ D50 ）依仪器而异。 B.2 粒径限制器 粒径限制器以准确定义且可再现的方式降低穿透率， 将小于规定的粒径去除。 只要粒径 限制器的穿透特性达到要求， 市场上各种尺寸、 不同配置的粒径限制器都可使用。 扩散元件 和虚拟冲撞器都可作为合适的粒径限制器使用。 穿透率随粒子物理特性、 仪器配置、气流量而变化。 对所有的粒径限制器都要注意的是， 必须只按设计气流量使用， 且安装后没有静电荷积累。 确保粒径限制器做到了正确接地， 就 可使电荷积累降至最低。粒径限制器一般设在纳米尺度粒子计数仪器的入风口。 粒径限制器的实例有扩散单元和虚拟冲撞器。 粒径限制器的技术要求见表 D.1。 表 D.1 粒径限制器技术要求 项目 技术要求 测量不确定度 规定粒径粒子的去除率为 50%±10% 校准周期 因设备类型而异，一般为 12 个月 流经粒径限制器的气流应大于或等于计数器所要求