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- 约 72页
- 2020-08-24 发布于福建
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微电子工艺
第3章外延
(Epitaxy)
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丽
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第3章外延
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3.1概述
32气相外延
3.3分子束外延
3.4其它外延
3.5外延层缺陷及检测
3.1概述
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3.1.1外延概念
●
0●0
·在微电子工艺中,外延( epitaxy)是指在单晶
衬底上,用物理的或化学的方法,按衬底晶
向排列(生长)单晶膜的工艺过程。
新排列的晶体称为外延层,有外延层的硅片
称为(硅)外延片。
与先前描述的单晶生长不同在于外延生长温
度低于熔点许多
外延是在晶体上生长晶体,生长出的晶体的
晶向与衬底晶向相同,掺杂类型、电阻率可
不后。n/nt,m/p,GaAs/Si
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3.1.2外延工艺种类
●
0●0
按材料划分:同质外延和异质外延
按工艺方法划分:气相外PB
气相外延工艺成熟,可很好
●按温度剝分
的控制臏厚度,杂质浓度
(1000℃以下
和晶格的完性,在硅工艺
生长外延层
中一直占主导地位
●块电阻率高低分
恶高阻层
反外延一高阻利底上外延低阻层
按外延层结构分类:普通外)选择外延,多层外延
其它划分方法∶按结构划分换外延层厚
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