超声检测技术 教案 4-1 超声检测步骤及设备的选择.doc

课 题 超声检测技术步骤及设备的选择（2学时） 目 的 与 要 求 掌握超声检测面、仪器、探头和耦合剂的选择原则，为检测参数的选择打下基础。 重 点 检测条件、扫查方式和设备的选择 难 点 探头频率、尺寸对探伤的影响 教 具 多媒体 复 习 提 问 无 新知识点考查 超声检测步骤、设备 布置 作业 补充：习题册 课后回忆 备注 教员 教研室 主任批阅 系部审 查意见 第4章 超声检测通用技术 知识能力一 超声检测步骤 一、检测条件的选择 1. 检测面的选择与准备 1）检测面的选择原则 当一个确定的工件存在多个可能的声入射面时，首先要考虑缺陷的最大可能取向。根据缺陷的可能取向，选择入射超声波的方向，使声束轴线与缺陷的主反射面接近垂直。 2） 检测面的准备 目的：为了保证检测面能提供良好的声耦合，使超声束能进入到被检件中。 二、缺陷扫查 扫查就是移动探头使声束覆盖到试件上需检测的所有体积的过程。 扫查包含的内容有：扫查方式、扫查速度、扫查间距等。 1. 扫查方式——按探头移动方向、移动轨迹来描述。 1）选用的基本原则 考虑声束覆盖范围，以保证声束覆盖到试件上需检测的所有体积。 根据受检件的形状、缺陷的可能取向和延伸方向，尽量使缺陷能够重复显现，并使动态波形容易判别。 2）扫查方式的分类 a. 全面扫查：对受检件全部体积进行扫查，即探头在整个探测面上沿一定的方向移动，移动时相邻的间距需保证声束有一定重叠量。 b. 局部扫查：以间隔较大的间距进行扫查，或只扫查工件的某些部位。 c. 分区扫查：对于体积大、形状复杂的试件，还可以将试件分成几个部分（区），分别进行扫查。 d. 双晶探头检测: 扫查方式考虑扫查方向与隔声层方向平行或垂直进行。 2. 扫查速度——探头在检测面上移动的相对速度。 选择原则：在目视观察时应能保证缺陷回波被有把握地看清，在自动记录时，则要保证记录装置能有明确的记录。 3. 扫查间距——相邻扫查线之间的距离（锯齿扫查为齿距，螺旋线扫查为螺距等）。 扫查的间距通常根据探头的最小声束宽度，保证两次扫查之间有一定比例的覆盖。 探头有效声束宽度的测定：接触法检测时，根据探头的特点，选择检测深度范围中声束直径最小的深度处，取埋深与之相等并含有所要求直径的平底孔的试块，调节仪器，使平底孔反射波高为荧光屏满刻度的80%，然后找出探头沿横过平底孔直径方向移动时反射波高下降6分贝的两点间的距离，此距离即为探头有效声束宽度。 三、结果记录与报告的编写 检验报告是焊缝超声波检验的存档文件，经质量管理人员审核后，正本发送委托部门，其副本由探伤部门归档。探伤记录与报告应具有追踪性，并至少保存7年以上以备随时查核。 知识能力二 超声检测设备的选择 一、超声检测仪选择原则 1.对于室外现场探伤，应选择重量轻，荧光亮度好，抗干扰能力强的便携式仪器。 2.对于近表面缺陷的检测，应选择盲区小、分辨力好的仪器。 3.对于大型零件的探伤，应选择功率大、灵敏度余量高、信噪比高的仪器。 4.如果对缺陷定位要求高，应选择水平线性误差小的仪器。 5.如果对缺陷定量要求高，应选择垂直线性好、衰减器精度高的仪器。 此外还应考虑仪器的性能稳定性、重复性、可靠性和方便性等因素。 二、探头选择 1. 探头类型 一般根据工件形状和可能出现缺陷的部位、方向等条件来选择，使声束轴线尽量与缺陷垂直。 2. 探头频率 1）检测灵敏度：由于波的衍射，使超声波检测的理论灵敏度为1/2λ，因此超声波频率高，灵敏度高，有利于发现更小的缺陷。 2）分辨力：超声波的频率高，声束窄，分辨力高，有利于区分相邻的缺陷。 3）声束指向性：超声波的频率高，波长短，半扩散角小，声束指向性好，能量集中，有利于对缺陷进行准确定位，但扫查空间小，仅能发现声轴线附近的缺陷。 4）近场区长度：超声波的频率高，近场区长度加大，对探伤不利。 注意*：近场区长度大，不意味盲区大，近表面分辨力差；近表面分辨力与脉冲的宽窄有关。 5）衰减性：通常频率越高，衰减越大。对于金属材料，当频率过高或晶粒粗大时，衰减很显著，往往得不到足够的穿透能。此时，由于晶界的散射还会出现草状回波而使信噪比会降低。 6）缺陷反射指向性：面积状缺陷，频率太高会形成显著的反射指向性。只能检测到垂直或近于垂直于声束的裂纹等面状缺陷（该类缺陷具有显著的反射指向性），频率越高这种现象越显著。 7）探头带宽：时间上越窄的脉冲对应的频率谱就越宽。所以说宽带探头发射的脉冲宽度小；窄带探头发射的脉冲较宽； 宽带探头的特点：脉冲宽度小，深度分辨力（近表面分辨力）好，盲区小。探头使用的阻尼较大，通常灵敏度较低。 窄带探头的特点：脉冲较宽，深度分辨力（近表面分辨力）差，盲区大。灵敏度较高，穿透能力强。 注意*： ① 只有对于包含同样周期