硬盘SMART检测参数详解.pdfVIP

硬 盘 S M A R T 检 测 参 数 详 解 一、 SMART概述 用户最不愿意看到的事情，莫过于在毫无警告的情况下发现硬盘崩溃了。诸如 RAID 的备份和存储技术可以在任何时候帮用户恢复数据，但为预防硬件崩溃造成 数据丢失所花费的代价却是相当可观的， 特别是在用户从来没有提前考虑过在这些 情况下的应对措施时。 硬盘的故障一般分为两种： 可预测的 （predictable）和不可预测的 （unpredictable）。 后者偶而会发生，也没有办法去预防它，例如芯片突然失效，机械撞击等。但像电 机轴承磨损、 盘片磁介质性能下降等都属于可预测的情况， 可以在在几天甚至几星 期前就发现这种不正常的现象。 对于可预测的情况，如果能通过磁盘监控技术，通过测量硬盘的几个重要的安 全参数和评估他们的情况，然后由监控软件得出两种结果： “硬盘安全 ”或 “不久后 会发生故障 ”。那么在发生故障前，至少有足够的时间让使用者把重要资料转移到 其它储存设备上。 最早期的硬盘监控技术起源于 1992 年，IBM 在 AS/400 计算机的 IBM0662SCSI2 代硬盘驱动器中使用了后来被命名为 PredictiveFailureAnalysis（故障预警分析技术） 的监控技术，它是通过在固件中测量几个重要的硬盘安全参数和评估他们的情况， 然后由监控软件得出两种结果： “硬盘安全 ”或 “不久后会发生故障 ”。 不久，当时的微机制造商康柏和硬盘制造商希捷、昆腾以及康纳共同提出了名 为 IntelliSafe 的类似技术。通过该技术，硬盘可以测量自身的的健康指标并将参量 值传送给操作系统和用户的监控软件中， 每个硬盘生产商有权决定哪些指标需要被 监控以及设定它们的安全阈值。 1995 年，康柏公司将该技术方案提交到 SmallFormAnalysisAndReportingTechnology ），全称就是 “自我检测分析与报告技 术 ”，成为一种自动监控硬盘驱动器完好状况和报告潜在问题的技术标准。 SMART 的目的是监控硬盘的可靠性、预测磁盘故障和执行各种类型的磁盘自 检。如今大部分的 ATA/SATA 、SCSI/SAS 和固态硬盘都搭载内置的 SMART 系统。 作为行业规范， SMART 规定了硬盘制造厂商应遵循的标准，满足 SMART 标准的 条件主要包括： 1）在设备制造期间完成 SMART 需要的各项参数、属性的设定； 2 ）在特定系统平台下，能够正常使用 SMART ；通过 BIOS 检测，能够识别设 备是否支持 SMART 并可显示相关信息，而且能辨别有效和失效的 SMART 信息； 3 ）允许用户自由开启和关闭 SMART 功能； 4 ）在用户使用过程中， 能提供 SMART 的各项有效信息， 确定设备的工作状态， 并能发出相应的修正指令或警告。 在硬盘及操作系统都支持 SMART 技术并且开启 的情况下，若硬盘状态不良， SMART 功能会在开机时响起警报， SMART 技术能 够在屏幕上显示英文警告信息： “WARNINGIMMEDIATLYBACKUPYOURDATAANDREPLACEYOURHARDDIS KDRIVE ，AFAILUREMAYBEIMMINENT ．”(警告：立刻备份你的数据并更换硬 盘，硬盘可能失效。 ) SMART 功能不断从硬盘上的各个传感器收集信息，并把信息保存在硬盘的系 统保留区 (servicearea)内，这个区域一般位于硬盘