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第二章 晶体结构缺陷
一、选择题
1、点缺陷与材料的电学性质、光学性质、材料的高温动力学过程等有关,以下
点缺陷中属于本征缺陷的是( )。
A :弗仑克尔缺陷 B :肖特基缺陷
C:杂质缺陷 D:A+B
2 、热缺陷浓度与温度的关系:温度升高时,热缺陷浓度( )。
A :增加 B :降低
C:不变 D:A 或 B
3、MgO 晶体中弗林克尔缺陷的生成能为2.8ev ,在 1600℃时,热缺陷浓度为( )
23 -19
波尔兹曼常数k=1.38×10 ,1ev=1.602×10 J )。
-9 -9
A :8×10 B :1×10
-20 -3
C:5×10 D:2×10
4 、柏格斯矢量(Burgers Vector )与位错线垂直的位错称为( ) ,其符号表示
为( )。
A :刃位错;⊥ B :刃位错;VX
C:螺位错; D :刃位错;
5、柏格斯矢量(Burgers Vector )与位错线平行的位错是( ),其符号表示为
( )。
A: 螺位错; B: 螺位错;┰
C: 刃位错; D: 刃位错;
6、非化学计量氧化物中的缺陷浓度可受__________ 的影响。
A: 温度 B: 压力
C: 气氛 D: A+B+C
7 、MgO 晶体中肖特基缺陷的生成能为 6ev ,在 25 ℃时,热缺陷浓度为( )
23 -19
(波尔兹曼常数k=1.38×10 ,1ev=1.602×10 J )。
-20 -9
A :5×10 B:8×10
-51 -40
C:1.92×10 D:2×10
8. CaF2 弗伦克尔缺陷的生成能为 2.8ev ,在 1600℃时,热缺陷浓度为( )。
-23; -19
(波尔兹曼常数k=1.38 10 1ev=1.602 10 J )
-6 -4
A: 1.8×10 B: 1.7×10
-2 -8
C: 2.0×10 D: 1.5×10
9、TiO2 是还原气氛下烧结时形成常见的( )的半导体材料,其烧结体色泽
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