谱线的宽度和线形.pptVIP

2. 固体中谱线的非均匀宽化 在晶体生长过程中出现应力、位错、缺陷、非故 意掺入的杂质等情况 . 所以，激活离子占据的格位不 是全同的；离子分布在环境或多或少地受到扰动的 格位上 . 因为离子跃迁的频率受环境影响，跃迁频率 也有一个范围 . 于是，观察到的谱线是非均匀宽化的 ，线形是不同格位离子跃迁的合成 . 激活离子环境的 任何随机性都导致非均匀宽化 . 通常认为 中心极限定 理 能够成立，非均匀线宽具有 Gauss 线型（正态分布 ）。 在无序体系中，激活离子分布在差异更大的环境 内，因此具有更大的非均匀线宽 . 在固体中，离子并不处在 相同的环境中 能级间距受环境的影响， 也不相同，引起谱线非均 匀宽化 失相 ( dephasing ) 过程 气体分子间的碰撞或固体中电子散射声子都引起辐射电 磁波的相位发生变化 , 这样的过程称为 失相过程 . 振荡由振幅、频率和相位三个参量确定 , 总极化强度 与这些参量都 有关 , 而 总能量 仅与振幅有关 . 极化强度变化和能量变化是不同的过 程 . 振幅的随机变化影响总能量和总极化强度 , 但频率和相位的随机 变化却只影响总极化强度而不影响总能量， ? 为介质中的极化率 . P = ?S j E j ( t )e i [( W j + ? j ( t )) t + j j ( t )] E ?S j | E j ( t ) | 2 在固体中，电子与声子的相互作用引起原子辐射的相位发 生随机变化 . 例如，对于晶体，影响谱线宽度最重要的过 程是固有 Raman 过程，在这种过程中，吸收和发射的声子 具有相同的能量和不同的波矢 q 1 , q 2 ， 结果是使辐射相位 产生 ?j = ? (q 1 , q 2 ) 的突变 . 这样的过程为 失相过程 . -1 0 1 3 2 1 0 E ( t ) t / T 2 纯失相过程 . 谐振子在动态微扰下相位发生突变，两次 微扰作用时间间隔的平均值为 T 2 . 设系统中有 n 个谐振子，它们各自独立地发射 . 在 t =0 时，这些谐振子具有相同的相位 . 每个谐振 子的相位随机变化，相邻两次变化间的时间按指 数分布，均值为 T 2 . 每次相位的变化值在 [- ? ， ? ] 内均匀分布，且与变化前的值无关 . 我们模拟这 样一个系统 总极化强度 的平方随时间的变化，即 求 ? ? ? ? ? n n t i t i t i t y 2 2 2 | )] ( exp[ | | )] ( exp[ | )] ( [ j j ? 0 10 20 30 40 50 -4 -2 0 2 相 位 ( j / ? ) 时间 ( t / T 2 ) 经历纯失相过程的一个谐振子相位的历史 T 2 : 相邻两次变化的平 均时间 0 1 2 3 4 5 1E-5 1E-4 1E-3 0.01 0.1 1 模拟值 理论值 | 极 化 强 度 | 2 ( 相 对 值 ) 时间 ( t / T 2 ) 相位随机变化的 100000 个谐振子总极化强度平方随时间 的变化 . 模拟结果与理论值 exp(-2 t / T 2 ) 的比较 . 设原子自由辐射频率为 ? 0 , 辐射相位受到扰动产 生随机变化 , 变化值在 [- ? ， ? ] 内均匀分布，与其 初始相位无关 , 相邻两次变化的时间间隔 ? (0 ? ∞) 以 2 / 2 e 1 ) ( T T p ? ? ? ? 分布 . 记上一次变化的时间为 0, 在 (0, ? ) 内的电 场不受扰动 , E ? (t)=E 0 exp[i( ? 0 t+ j (0)] (0t ? ) 它的 Fourier 变换为 ) ( e 1 e π 2 d e e π 2 d e π 2 ) ( 0 ) ( ) 0 ( 0 0 ) ( ) 0 ( 0 0 ) 0 ( ) ( 0 0 0 0 ? ? ? ? ? ? j ? ? ? j j ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? i E t E t E E i i t i i i t i 2 0 0 2 0 2 ) ( ] ) cos( 1 [ | ) ( | ) ( ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? ? E E I 考虑 ? 的分布 , 整个系统辐射的强度为 2 1 2 0 2 0 / 0 2 0 0 2 0 0 ) ( ) (