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- 2020-09-24 发布于山东
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High-k 与Low-k 的分析
近十年来 CPU 者每 表 1款新主打 CPU,就会 榜 芯片所用的制程技 , 最初只
榜尺寸 密性制程, 而近五年来更是 各种新材 性制程, 倘若不去了解新材 制程的
意 ,那么也将愈来愈不了解新 CPU的价 意 ??
去 IBM微 子 表 Low k Dielectric(低介 , 或称: 低介 常数 ) 制程技
,人 没有投入太多的注目,而今 Intel 在45nm 制程的芯片 品 表后,也 在 45nm 制
程内使用了 High k/Metal Gate (高介 金属 极) 技 ,使的最近笔者 常被人 及: Low
k制程与 High k制程到底有何不同
此 的人因 被名称所迷惑, Low k与 High k是相互矛盾的技 , 且半 体 者
都 榜 Low k、High k等新制程技 能 芯片 路 来新的提升效益, 因此迷惑也就加深,
所以以下本文将 此 行更多 。
一、 LOW-K
在集成 路内部,由于 ILD(Inter Layer Dielectrics , 介 )的存在, 之
就不可避免地存在分布 容, 或者称之 寄生 容。 分布 容不 影响芯片的速度,
也 工作可靠性构成 重威 。从 容器容量 算公式中我 可以看出,在 构不
的情况下,减少 介 的 k ,可以减小 容的容
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