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* 崑山定宏光電有限公司 DPPM製程不良統計方法 PREPARED BY QA DEPARTMENT * 主要內容 DPPM概念介紹 計數值與計量值統計方法定義及區別 CPK與良率及sigma對應關係 定宏採用之DPPM製程統計方法 定宏製程DPPM統計目標 定宏採用DPPM統計目的及改進措施 * DPPM相關知識解釋 DPPM: Defect Part Per Million:百萬分之一不良品 產品品質特性的記錄一般分成計數值或計量值，計數值又以計件或計點為記錄，計量值以實際量測之特性值 計量值則以製程能力指數Cp、k（Ca）、Cpk為代表 計數值一般以MIL-STD-105E 之AQL來衡量,AQL在10以下時，可表計件的不良率或計點的缺點數，AQL在10以上時，則表計點的缺點數或每百件缺點 * 計量值衡量標準:Cpk—製程能力指標 (1)Ca之計算方式如下(準確度) 實績平均值-規格中心值 X-u Ca=----------------------------------*100% = --------------*100% 規格公差/2 T/2 T=USL-LSL =規格上限--規格下限 規格公差 6個估計實績標準差 = T 6 σ Cp= (雙邊規格) (單邊規格) 或 規格上限-實績平均值 3個估計實績標準差 = USL-X 3 σ Cp= 實績平均值-規格下限 3個估計實績標準差 = X-LSL 3 σ Cp= Cpk = ( 1 ─ │Ca │ ) * Cp (2)Cp之計算方式:(精確度) (3) 製程能力指數 * 計量值品質統計衡量方式 Cpk Sigma(中心點不偏移Cp=Cpk) * 計量值品質統計衡量方式 Cpk Sigma(中心點偏移1.5σ) * 計數值製程良率衡量指標 製程良率（Yield）：一般以一製程之投入產品件數與該製程輸出良品的件數之比率。以上適用於電子零件、半導體等製程，其不良品無法修理而報廢者。裝配廠的製程，其不良品大致上都可以修理，修理好的產品，再回線測試，繼續裝配，如此要定義其良率應以各製程的初檢通過率（First Time Yield；FTY）較為合理。 初檢通過率（First Time Yield；FTY）:一製程投入產品件數與第一次檢驗就通過之件數之比率。 全製程之直通率（Rolled Throughout Yield）:定義為全製程的投入產品件數與通過全製程無缺點產品件數之比率，不過在製程上要準確計算比較困難，一般以各製程的良率相乘 * 檢點數與良率的關係 一. 檢點數與良率的關係(中心不偏移目標值) 檢點數ｎ 3σ 4σ 5σ 6σ 1 99.73 % 99.9937% 99.999943% 99.9999998% 2 99.64 99.99 99.9999 99.99999 3 98.66 99.97 99.9997 99.99999 10 97.33 99.94 99.9994 99.99999 50 87.36 99.69 99.997 99.99999 100 76.31 99.73 99.994 99.99998 500 25.88 96.90 99.97 99.99990 1000 6.70 93.89 99.94 99.9998 * 檢點數與良率的關係 二. 檢點數與良率的關係(中心偏移目標值1.5σ) 檢點數ｎ 3σ 4σ 5σ 6σ 1 93.32% 99.797% 99.9767% 99.99966% 2 87.09 98.76 99.95 99.99932 3 70.77 96.93 99.88 99.9983 10 50.09 93.96 99.77