PERC技术现状及未来展望答疑.docxVIP

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PERC技术现状及未来展望答疑 1.氧化铝厚度对电性能的影响?PID、LeTID有没有影响? 氧化铝厚度对PID、LeTID没有影响,如果做双面氧化铝对PID的影响比较大 2.ALD氧化铝如何解决绕镀 目前ALD分两种,以板式和管式为主。板式,硅片平铺在载板上,绕镀可以控制在0.5mm以内。管式,一种是单插双镀,两边同时镀膜解决绕镀问题,镀双面会有比较大的隐患,正面氧化铝与扩散PN结成反型,起负电场的作用,对PID有比较大影响,对于正负1500V击穿测试过不了;另一种双插单镀,以硅片背靠背形式插片解决, 3.双面氧化铝对正面的影响 正面常规结构主要是氮化硅薄膜,浆料以烧穿氮化硅为主,如果有额外的氧化铝,表面负电场与PN结反型,对折射率是有益处,但对浆料的烧穿体系来说没有益处,另外再加上对PID的影响,对正面的影响比较大 4.氧化铝钝化在n型硅的前景 对于P型电池是背面钝化,对于N型,同样可以起到钝化效果,但是是正面钝化,ALD优势在镀膜质量高、均匀性好,可以做到更薄,N型量产电池厂家主要选ALD作氧化铝钝化。 5.双面氧化铝的话对浆料的要求 常规浆料以烧穿氮化硅为目的,对于氧化铝膜,需要在玻璃粉方面要作调整,刚开始调试阶段的主要问题是拉力不足,没有烧穿氧化铝,没有与硅片形成良好的欧姆接触 6.氧化铝沉积方式对Tma消耗的差异 沉积方式以PECVD和ALD为主,PECVD反应的膜厚要求高及TMA利用率低,ALD的耗量大约4mg/片,而PECVD的耗量则为ALD的两倍。 7.双面氧化铝改单面氧化铝存在的问题及解决办法 主要在管式ALD上改,主要问题在花篮的槽距,如果槽距过大反镀会比较严重,如果槽距过小则会有划伤情况,需要实际调整。 8.氧化铝设备单边发黑的处理 氧化铝边缘发黑,成膜均匀性在初期有些问题,或者自动化设备在上下料时有异常发生,正常生产是不会有单边发黑的情况。 9.单面PID解决办法?双面怎么保证双面PID 对于PID,正面以热氧为主,提升效率同时解决PID问题;背面使用渐进膜或类似生成氧化硅的薄膜来解决PID问题。双面PID与单面类似,正面以氧化退火为主,背面以氧化硅薄膜配渐变膜来抑制PID现象 10.碱抛机台提效方案。 碱抛可以提升效率,降低化学品耗量,减轻环保压力,带来1分钱/片收益,但提效对SE来说不够明显,还需优化, 11.退火温度与退火时间对氧化铝钝化性能的影响?氧化铝与氮化硅的氢钝化,哪个起主导作用?氢钝化机理、氢的传输过程是什么? 以ALD来说,退火温度,膜越薄退火温度越高,主要由生成膜的质量和成膜特性决定,ALD与CVD对退火要求不同 ALD氧化铝退火机理,采用水作为氧源,含氢氧键,钝化表面悬挂键,降低界面态密度,大大增加固定负电荷的能力,起到场钝化的作用 12.ALD氧化铝的前驱体氧源是水和臭氧有什么区别 对效率没有影响,主要是工业对成本、稳定性、控制性方面的考虑,水更符合大规模应用 14.对PERC技术最大挑战的技术路线是什么? 从技术讲HIT,IBC、TOPCon等比较有优势,但都不具备成本竞争力 15 perc电池如何叠加非晶硅技术,目前效率如何 目前没有PERC叠加非晶硅的技术,钙钛矿方面目前有新的进展 16.perc未来的提效方向在哪里 大规模生产,提高良率,降低成本 19.单面SE玛雅PERC产品低效片静置会出现气泡发黑,效率跳档严重,重烧后效率有所提升,EL有改善,但静置后会复原,如何改善 怀疑点:氧化铝厚度不均匀,局部异常导致,烧结过烧,光注入或电注入的条件需要优化 20.制绒良率提升,碱抛的优势 制绒良率的提升主要以添加剂为主,其次是设备控制精度,从早期的慢速制绒添加剂到现在的快速制绒添加剂;碱抛优势:背面较高反射率降低表面复合,提高少子寿命 21.?板P,管P,ALD,三种工艺制备的AlOx薄膜最适厚度区间各是多少,退火温度有没有区别,为什么? 板P,由早期24nm降至15nm;管P,由12nm降至8nm;ALD,3-8nm。退火温度达不到,会造成片子整体发黑,效率降低导致降档 22.perc电池,氧化铝膜层在高温烧结时会出现小气泡,原理是什么,应该怎样解决? 成膜时氢氧键过多,在反应时水过量,退火时氢氧散逸或退火不充分造成 23.通过酸背抛提高反射率到40%与碱背抛效率那個有优势 不管酸抛还是碱抛,反射率到40%效率差异不大,主要从化学品耗量考虑,如果用酸抛需要用到大量化学品,处理成本也高 24.双面电池目前在组件端,只有用POE封装才能通过抗PID测试,用EVA封装抗PID测试失效,如何解决双面电池抗PID问题? 背面引入氧化硅薄膜配渐变膜来抑制PID现象,同时正面避免额外的氧化铝干扰 25.用maia和微导,理想等设备生产PERC电池和常规电池比增加背面工艺的成本分别是多少?

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