电工电子应用技术 集成逻辑门电路 集成逻辑电路的连接和驱动（实验报告）.docVIP

实训二十一 集成逻辑电路的连接和驱动 一、实训目的 掌握TTL、CMOS集成电路输入电路与输出电路的性质。 掌握集成逻辑电路相互衔接时应遵守的规则和实际衔接方法。 二、实训电路 (a) 高电平输出 (b) 低电平输出 图21-1 与非门电路输出特性测试电路 图21-2 TTL电路驱动CMOS电路 图21-3 CMOS驱动TTL电路 三、实训设备与器件 序 号 名 称 型号与规格 数 量 备 注 直流稳压电源 ＋5V 1路 实训台 直流数字电压表 1只 实训台 直流毫安表 1只 实训台 逻辑电平输出 DDZ-22 逻辑电平显示 DDZ-22 逻辑笔 1只 DDZ-22 14P芯片插座 2个 DDZ-22 集成芯片 74LS00 2片 集成芯片 CC4001 1片 电阻 100Ω、470Ω、3kΩ 各1个 DDZ-21 电位器 10k 1个 DDZ-12 电位器 4.7k、47k 各1个 四、实训内容与步骤 测试TTL电路74LS00及CMOS电路CC4001的输出特性（管脚图见附录3） 测试电路如图21-1所示，图中以与非门74LS00为例画出了高、低电平两种输出状态下输出特性的测量方法。改变电位器RW的阻值，从而获得输出特性曲线，R为限流电阻。 (1) 测试TTL电路74LS00的输出特性 在实训装置的合适位置选取一个14P插座。插入74LS00，R取为100Ω，高电平输出时，RW取47kΩ，低电平输出时，RW取10kΩ，高电平测试时应测量空载到最小允许高电平(2.7V)之间的一系列点；低电平测试时应测量空载到最大允许低电平(0.4V)之间的一系列点。 (2) 测试CMOS电路CC4001的输出特性 测试时R取为470Ω，RW取4.7kΩ 高电平测试时应测量从空载到输出电平降到4.6V为止的一系列点；低电平测试时应测量从空载到输出电平升到0.4V为止的一系列点。 TTL电路驱动CMOS电路 用74LS00的一个门来驱动CC4001的四个门，实训电路如图21-2所示，R取3kΩ。测量连接3k与不连接3k电阻时74LS00的输出高低电平及CC4001的逻辑功能，测试逻辑功能时，可用实训装置上的逻辑笔进行测试，将逻辑笔的输入口通过一根导线接至所需的测试点。 CMOS电路驱动TTL电路， 电路如图21-3所示，被驱动的电路用两片74LS00的八个门并联。 电路的输入端接逻辑电平输出插口，八个输出端分别接逻辑电平显示的输入插口。先用CC4001的一个门来驱动，观测CC4001的输出电平和74LS00的逻辑功能。 然后将CC4001的其余三个门，一个个并联到第一个门上（输入与输入，输出与输出并联），分别观察CMOS的输出电平及74LS00的逻辑功能。 五、实训总结 掌握所用集成电路的引脚功能。 记录实训测量数据。