电子产品的生产与检验 常用元器件的来料检验 2.1.2元器件的筛选.pptxVIP

元器件的筛选方法 任务2.2 讲授：刘红兵 任务引入 从一批元器件中筛选出有潜在缺陷元器件 淘汰掉这些元器件 图2.1.1 检验与筛选车间 元器件各种工艺质量检验 电参数测试 专门用于剔除早期失效元器件的可靠性筛选 筛选的目的 广义上的筛选 1.元器件筛选的必要性 电子元器件的早期失效，是由于在设计和生产制造时选用的原材料或工艺措施方面的缺陷而引起的，它是隐藏在元器件内部的一种潜在故障，在开始使用后会迅速恶化而暴露出来。实践证明大多数电子元器件或产品的故障率是时间的函数，典型故障曲线如图2-1-3所示。从图中可以看出：曲线的形状呈两头高，中间低，有些像浴盆，所以称为“浴盆曲线”(Bathtub curve,失效率曲线) 。 浴盆曲线 1.元器件筛选的必要性 如果取产品的失效率作为产品的可靠性特征值，它是以使用时间为横坐标，以失效率为纵坐标的一条曲线。失效率随使用时间变化分为三个阶段：早期失效期、偶然失效期和老化（耗损）失效期。 浴盆曲线就是指电子元器件或产品从投入到报废为止的整个寿命周期内，其可靠性的变化呈现一定的规律。 2．筛选方案的设计原则 理想的可靠性筛选应使W=1，L=０，这样才能达到可靠性筛选的目的。Q值大小反映了这些产品在生产过程中存在问题的大小。Ｑ值越大，表示这批产品筛选前的可靠性越差，亦即生产过程中所存在的问题越大，产品的成品率低。 筛选的基本术语有：筛选效率（W＝剔除次品数/实际次品数）、筛选损耗率（L＝好品损坏数/实际好品数）、筛选淘汰率（Ｑ＝剔降次品数/进行筛选的产品总数）。 2．筛选方案的设计原则 针对各种具体产品进行大量的可靠性试验和筛选摸底试验，从而掌握产品失效机理与筛选项目间的关系。元器件筛选方案的制订要掌握以下原则: ①筛选要能有效地剔除早期失效的产品，但不应使正常产品提高失效率。②为提高筛选效率，可进行强应力筛选，但不应使产品产生新的失效模式。③合理选择能暴露失效的最佳应力顺序。④对被筛选对象可能的失效模式应有所掌握。⑤为制订合理有效的筛选方案， 必须了解各有关元器件的特性、 材料、封装及制造技术。 3．几种常用的筛选项目 ①高温贮存。电子元器件的失效大多数是由于体内和表面的各种物理化学变化所引起，它们与温度有密切的关系。温度升高以后，化学反应速度大大加快，失效过程也得到加速。使得有缺陷的元器件能及时暴露，予以剔除。 3．几种常用的筛选项目 ②功率老化。功率老炼是指在热电应力的共同作用下，能很好地暴露元器件体内和表面的多种潜在缺陷，它是可靠性筛选的一个重要项目。功率老炼需要专门的试验设备，其费用较高，故筛选时间不宜过长。 3．几种常用的筛选项目 ③温度循环。电子产品在使用过程中会遇到不同的环境温度条件，在热胀冷缩的应力作用下，热匹配性能差的元器件就容易失效。温度循环筛选利用了极端高温和极端低温间的热胀冷缩应力，能有效的剔除有热性能缺陷的产品。 3．几种常用的筛选项目 ④离心加速度试验。离心加速度试验又称恒定应力加速度试验。这项筛选通常在半导体器件上进行，利用高速旋转产生的离心力作用于器件上，可以剔除内引线匹配不良和装架不良的器件。 3．几种常用的筛选项目 ⑤监控振动和冲击试验。监控振动和冲击试验是指在对产品进行振动或冲击试验的同时进行电性能的监测。这项试验能模拟产品使用过程中的振动、冲击环境，能有效地剔除瞬时短、断路等机械结构不良的元器件以及整机中的虚焊等故障。 3．几种常用的筛选项目