导热系数的测量.docxVIP

实验九导热系数的测量 ［实验目的］ 用稳态法测出不良导热体的导热系数，并与理论值进行比较。 ［实验仪器］ 发热盘A,散热盘P,样品B,数显计时器，毫伏表，电源，冰瓶，游标卡尺 ［实验原理］ (9-1 )(9- (9-1 ) (9-2 ) (9— 3) (9 - 4) Q 口 r2b t hB 2 Q T Rp 2 Rphp —mc — t t 2 Rp 2 RPhP T Rp 2hp ?hB 小 1 mc ?——2 t 2Rp 2hp Ti T2 rB ［实验步骤］ 1、 用游标卡尺测量待测样品直径和厚度，各测 5次。 2、 用游标卡尺测量散热盘 P的直径和厚度，测5次。用夭平称出P盘的质量。 一、不良导体导热系数的测量 1、 实验时，先将待测样品（例如硅橡胶圆片） 放在散热盘P上面，然后将发热盘A放在样品 盘B上方，并用固定螺母固定在机架上，再调节三个螺旋头，使样品盘的上下两个表面与发 热盘和散热盘紧密接触。 2、 在杜瓦瓶中放入冰水混合物， 将热电偶的冷端（黑色）插入杜瓦瓶中。将热电偶的热端（红 色）分别插入加热盘 A和散热盘P侧面的小孔中，并分别将其插入加热盘 A和散热盘P的热 电偶接线连接到仪器面板的传感器I、 □上。 3、 接通电源，将加热开关置于高挡，开始加热。当传感器I的温度读数 VTi约为4.2mV时， 再将加热开关置于低挡，降低加热电压，以免温度过高。 4、 传感器I、□的读数不再上升（ Vti和Vt2的数值在10min内的变化小于0.03mV,约需40 分钟，视不同的实验条件而不同）时，说明已达到稳态，每隔 3分钟记录Vti和VT2的值。 5、测量散热盘在稳态值 T2附近的散热速率（一^ ）。移开铜盘A,取下橡胶盘，并使铜盘 A 的底面与铜盘 P直接接触，当P盘的温度上升到高于稳定态的 VT2值若干度（0.2mV左右） 后，再将铜盘 A移开，让铜盘P自然冷却，每隔30秒（或自定）记录此时的Ta值。根据测量 值计算出散热速率 二、金属导热系数的测量 1、 先将两块树脂圆环套在金属圆筒两端， 并在金属圆筒两端涂上导热硅脂， 然后把圆柱体金 属铝棒，置于发热圆盘与散热圆盘之间。调节散热盘 P下方的三颗螺丝，使金属圆筒与加热 盘A及散热盘P紧密接触。 2、 当发热盘与散热盘达到稳定的温度分布后， Ti、T2值为金属样品上下两个面的温度， 此时 T T3散热盘P的温度为T3值。因此测量P T T3 由此得到导热系数为Qmr t T3h 1 由此得到导热系数为 Q mr t T3 2 Ti T2 mR 测T3值时可在Ti、T2达到稳定时，将插在发热圆盘与散热圆盘中的热电偶取出，分别插入 金属圆柱体上的上下两孔中进行测量。 三、测量空气的导热系数，调节三个螺旋头，使发热圆盘与散热圆盘的距离为 h,并用塞尺 进行测量（即塞尺的厚度），此距离为待测空气层的厚度。 ［实验数据与结果］ 1、实验数据记录（铜的比热 c 0.09197cal g 1 C 1 ,比重8.9g/cm3） 1 散热盘 P:质量 m = 968 (g) 半径 RP -DP 6.4514 (cm) 1 2 3 4 5 Dp (cm) 12.896 12.916 12.898 12.894 12.910 hp (cm) 0.896 0.914 0.898 0.916 0.908 1 橡胶盘： 半径 Rb -Db 6.5022 (cm) 2 1 2 3 4 5 Db (cm) 12.960 13.040 12.960 13.062 13.000 hB (cm) 0.780 0.802 0.782 0.790 0.796 稳态时「、T2的值（转换见附录2的分度表）「=53.9 C T2= 31.9 C  VTi (mV) 3. 09 3.08 3.07 3.06 3.05 VT2 (mV) 1.75 1.74 1.73 1.72 1.71 散热速率: 时间（秒） 30 60 90 120 150 180 210 240 T2 ( mV) 2.06 1.99 1.92 1.86 1.80 1.74 1.68 1.63 温度c 36.9 35.8 34.6 33.6 32.7 31.7 30.7 29.9 =0.13096 W/m.KT Rp 2hP ?hB 小 1 mc ? —2 =0.13096 W/m.K t 2Rp 2hP T1 T2 rB 相对误差=20.6%~81.9% ［实验结果分析］ 1、 放置热电偶的发热和散热圆盘侧面的小孔应与杜瓦瓶同一侧，避免热电偶线相互交叉。 2、 实验中，抽出被测样品时，应先旋松加热圆筒侧面的紧定螺钉。 样品取出后，小心将加热 圆筒降下，使发热盘与散热盘接触，应防止高温烫伤。