现代分析测试技术_02X射线多晶衍射方法及应用综合练习.docxVIP

第二章 X 射线多晶衍射方法及应用 （红色的为选做，有下划线的为重点名词或术语或概念） 1．名词、术语、概念：选靶，滤波，衍射花样的指数化，连续扫描法，步进扫描法， X 射 线物相分析， X 射线物相定性分析， X 射线物相定量分析。 2．X 射线衍射方法分为多晶体衍射方法和单晶体衍射方法； 多晶体衍射方法主要有 （ ） 和（ ）；单晶体衍射方法主要有（ ）、（ ）和（ ）等。 3．根据底片圆孔位置和开口所在位置不同， 德拜法底片的安装方法有 3 种，即（ ）、（ ） 和（ ）。 4．德拜法测定点阵常数，系统误差主要来源于（ ）、（ ）、（ ）、（ ）等，校 正的方法主要是采用（ ）安装底片。 5．入射 X 射线的波长 越长则可能产生的衍射线条越多。这种说法（ ）。 A ．正确； B．不正确 6．靶不同，同一干涉指数 （HKL ）晶面的衍射线出现的位置（ 2 ）不同。 这种说法（ ）。 TOC \o 1-5 \h \z A ．正确； B．不正确 7．德拜法的样品是平板状的，而衍射仪法的样品是圆柱形的。这种说法（ ）。 A ．正确； B．不正确 8．德拜照相法衍射花样上，掠射角（ ）越大，则分辨率（ ）越高，故背反射衍射线条比 前反射线条分辨率高。这种说法（ ）。 A ．正确； B．不正确 9．在物相定量分析方面，德拜法的结果比衍射仪法准确。这种说法（ ）。 A ．正确； B．不正确 10．多晶衍射仪法测得的衍射图上衍射峰的位置十分精确，没有误差。这种说法（ ）。 A ．正确； B．不正确 11．如果采用 Mo 靶（ K =0.07093nm ），那么晶面间距小于 0.035nm 的晶面也可能产生衍射 线。这种说法（ ）。 A ．正确； B．不正确 12．在 X 射线物相定性分析过程中，主要是以 d 值为依据，而相对强度仅作为参考依据。 这种说法（ ）。 A ．正确； B．不正确 13．X 射线衍射法测定晶体的点阵常数是通过衍射线的位置（ 2 ）的测定而获得的，点阵常 数测定时应尽量选用低角度衍射线。这种说法（ ）。 A ．正确； B．不正确 14．入射 X 射线的波长（ ）越长则可能产生的衍射线条（ ）。 A ．越少； B．越多 15．靶不同，同一指数（ HKL ）干涉面的衍射线出现的位置 2 （ ）。 A ．相同； B．不相同； C．说不清楚 16．实际应用中最常用的 X 射线衍射方法是（ ）。 A ．劳厄法； B ．粉末衍射仪法； C．周转晶体法； D．德拜照相法 17．德拜法中有利于提高测量精度的底片安装方法是（ ）。 A ．正装法； B ．反装法； C．偏装法； D． A+B 18．已知 X 光管是铜靶，应选择的滤波片材料是（ ）。 A ． Co；B ．Ni；C． Fe 19．粉末衍射仪法中的试样形状是（ ）。 PAGE PAGE # A ．圆柱状； B ．平板状； C．任意块状； D．丝状 20．同一粉末相上背射区线条与透射区线条比较起来其 角越高或是较低？相应的 d 较大还 是较小？ 21．试总结德拜法衍射花样的背底来源，并提出一些防止和减少背底的措施。 22．下图为某样品德拜相（示意图） ，摄照时未经滤波。已知 1、2 为同一晶面衍射线， 3、4 为另一晶面衍射线，试对此现象作出解释。 题图 22 题图 22 23．说明衍射仪由哪几部分组成。在 X 射线衍射仪上进行实验时，为何要求平板试样的表 面要与聚集圆相切？如果试样表面转到与入射线成 30 角，则计数管与入射线所成角度 为若干？能产生衍射的晶面与试样的自由表面呈何种几何关系？ 24． X 射线衍射仪法中对粉末多晶样品的要求是什么？ 25．粉末样品颗粒过大或过小对德拜花样影响如何？为什么？板状多晶体样品晶粒过大或过 小对衍射峰形影响又如何？ 26．试从入射光束、样品形状、成相原理（厄瓦尔德图解） 、衍射线记录、衍射花样、样品 吸收与衍射强度（公式） 、衍射装备及应用等方面比较衍射仪法与德拜法的异同点。 27．试比较衍射仪法与德拜法的特点。 28．试述影响粉末衍射花样谱线位置、数目和强度的因素。 29． X 射线衍射花样可以分析晶体结构，确定不同的物相，为什么？ 30．为什么不能用 X 射线进行晶体微区形貌分析？ 31．运用厄瓦尔德图解说明多晶衍射花样的形成原理。 倒易球与反射球的区别是什么？两球 的球心位置有何关系？衍射锥的顶点、母线、轴各表示什么含义？ 32．简述 X 射线衍射物相定性分析原理、一般步骤及注意事项。 33．物相定性分析的原理是什么？用 X 射线法进行成分分析和物相分析，其原理有何差别。 34．运用 PDF 卡片定性分析物相时，一般要求对照八强峰而不是七强峰，为什么？ 35．为什么物相定性分析时 d 值的数据比相对强度的数据重要？