怎样降低接线盒上盖外观不良率 3.ppt

如何降低接线盒上盖 外观不良率 10 工业 2 散点图 ? 生产过程是两班制，分为白天和晚上，首先应该考虑生 产质量的不合格率与时间是否有关系，用散布图来发现 它们之间的联系。 P 控制图 23 21 19 17 15 13 11 9 7 5 3 1 0.5 0.4 0.3 0.2 0.1 0.0 样本 比 率 _ P=0.0498 UCL=0.0610 LCL=0.0386 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 使用不相等样本量进行的检验 白天不合格率 的 P 控制图 23 21 19 17 15 13 11 9 7 5 3 1 0.4 0.3 0.2 0.1 0.0 样本 比 率 _ P=0.0495 UCL=0.0597 LCL=0.0394 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 使用不相等样本量进行的检验 上盖外观属性 的 P 控制图 跃过上界的点子不管是白天还是晚上都有，表明了该生产过程处 于失控状态，生产过程中出现了异常变化。 白天 晚上 μ图 23 21 19 17 15 13 11 9 7 5 3 1 0.05 0.04 0.03 0.02 0.01 样本 每 单 位 样 本 计 数 _ U=0.02544 UCL=0.03366 LCL=0.01723 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 使用不相等样本量进行的检验 白天单位缺陷数 的 U 控制图 23 21 19 17 15 13 11 9 7 5 3 1 0.04 0.03 0.02 0.01 0.00 样本 每 单 位 样 本 计 数 _ U=0.02022 UCL=0.02686 LCL=0.01358 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 1 使用不相等样本量进行的检验 上盖外观属性 的 U 控制图 从图中可以很明显发现出界的点子比较多，处于失控的状态。 由于上盖外观不良引起的不合格率基本上大于 2% ，为了使质量目标的 产品合格率大于 98% ，使上盖外观的不良率降低，至少使合格率上升到 98% 。 白天 晚上 上盖外观不良情况统计表 白天缺 陷 白天缺 陷总数 白天百 分比 白天累 计百分 比 晚上缺 陷 晚上缺 陷总数 晚上百 分比 晚上累 计百分 比 总缺陷 总缺陷 总数 百分比 累计百 分比 缺料 576 1979 0.29105 6089 0.29105 6089 354 1652 0.21428 5714 0.21428 5714 930 3631 0.2561 0.2561 气泡 300 1979 0.15159 1713 0.44264 7802 409 1652 0.24757 8692 0.46186 4407 709 3631 0.1953 0.4514 斑点 300 1979 0.15159 1713 0.59423 9515 250 1652 0.15133 1719 0.61319 6126 550 3631 0.1515 0.6028 斑纹 212 1979 0.10712 4811 0.70136 4325 301 1652 0.18220 339 0.79539 9516 513 3631 0.1413 0.7441 刮伤 166 1979 0.08388 0748 0.78524 5073 96 1652 0.05811 138 0.85351 0896 262 3631 0.0722 0.8163 变形 195 1979 0.09853 4613 0.88377 9687 44 1652 0.02663 4383 0.88014 5278 239 3631 0.0658 0.8821 杂质 140 1979 0.07074 2799 0.95452 2486 81 1652 0.04903 1477 0.92917 6755 221 3631 0.0609 0.943 摔破 65 1979 0.03284 4871 0.98736 7357 75 1652 0.04539 9516 0.97457 6271 140 3631 0.0386 0.9815 气雾 5 1979 0.00252 6529 0.98989 3886 37 1652 0.02239 7094 0.99697 3366 42 3631 0.0116 0.9931 裂纹 15 1979 0.00757 9586 0.99747 3471 0 1652 0 0.99697 3366 15 3631 0.0041 0.9972 压破 5 1979 0.00252 6529 1 0 1652 0 0.99697