安全仪表系统 安全仪表系统 06-SIF子系统的结构约束.pptxVIP

安全仪表系统SIF子系统的结构约束伍 波SIF子系统结构约束安全仪表系统安全功能（SIF）传感器、逻辑控制器，以及最终执行元件组成SIL等级应符合平均失效的概率PFDavg计算值所能达到的最大硬件安全完整性等级，受限于这些子系统相应的最低硬件故障裕度（HFT）要求SIF子系统结构约束安全功能失效子系统的硬件故障裕度为NN+1个故障时，将会导致其安全功能的失效IEC61508将子系统划分为：A型和B型。SIF子系统结构约束A型子系统 (同时满足)1)所有组成部件的失效模式都能被完全定义。2)故障状态下，子系统的行为能够完全确定。3)有来自现场经验的足够可靠的失效数据，佐证所声称的检测出的和未检测出的危险失效率是真实有效的。SIF子系统结构约束B型子系统（满足任意1条）1)至少1个组成部件失效模式不能被完全定义。2)故障状态下的子系统行为不能完全被确定。3)没有来自现场经验的足够可信的失效数据，佐证所声称的检测出的和未检测出的危险失效率是真实有效。SIF子系统结构约束A型(简单仪表设备：开关、继电器、阀门)A型子系统结构约束硬件故障裕度HFTSFF安全失效分数021SFF60%SIL1SIL2SIL3SIL260%SFF90%SIL3SIL490%SFF99%SIL3SIL4SIL4SIL3SIL4SIL4SFF99%SIF子系统结构约束B型(逻辑控制器、智能变送器)B型子系统结构约束硬件故障裕度HFTSFF安全失效分数021SFF60%SIL1SIL2SIL3SIL260%SFF90%SIL3SIL490%SFF99%SIL3SIL4SIL4SIL3SIL4SIL4SFF99%SIF子系统结构约束安全失效分数（SFF）对子系统的失效率进行分析，失效率可分为安全失效率λs和危险失效率λD失效率：检测出的失效率和未检出的失效率+??+?SFF+ +A型B型B型1231+2+3SIL1SIL2SIL1SIL1SIF子系统结构约束根据IEC61508的规定，在SIF是由单通道子系统构成时，该SIF最大可能的安全完整性等级，取决于链路上具有最小SIL的子系统。 B型B型B型A型A型125341+2+3+4+54+51+2+4+51+2SIL3SIL1SIL2SIL3SIL2SIL2SIL1SIL2SIL2SIF子系统结构约束SIF子系统结构约束行业或专业标准和规范指导特定应用场合的SIS设计和工程实践举例：NFPA85/86→燃烧器管理系统(BMS)操作状态下，禁止对应用逻辑进行修改线修改(OLM)功能被禁止SIF子系统结构约束SIS的功能安全执行安全生命周期各阶段的活动，必须以良好的质量保证体系（例如ISO 9000)为基础。质量保证SIS预期“应该有”→“真实”具备SIL能力SIF子系统结构约束执行功能安全标准IEC61508/1EC61511前提：设计、制造、安装、维护质量