四密度通用测试技术介绍.pdfVIP

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  • 2020-12-17 发布于河北
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四密度通用测试技术介绍 1 通用测试技术的起源和发展 最早的 PCB 通用电性测试技术可追溯至七十年代末八十年代初 , 由于当时的元器件均采用 标准封装 (Pitch 为 100mil), PCB 亦只有 THT(通孔技术 ) 密度层次 , 所以欧美测试机厂商就 设计了一款标准网格的测试机 , 只要 PCB上的组件和布线是按照标准距离排布的, 则每个测 试点均会落在标准网格点上 , 因为当时所有

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