3.4.芯片测试数据结构与算法.pdf

芯片测试 芯片测试问题 一次测试过程 测试方法：将2片芯片（A和B ）置于 测试台上，互相进行测试，测试报 告是“好”或“坏”，只取其一. B好 A坏 A B 假设：好芯片的报告一定是正确的， 坏芯片的报告是不确定的（可能会 出错） 2 测试结果分析 A 报告 B 报告 结论 B是好的 A 是好的 A , B 都好或A , B 都坏 B是好的 A 是坏的 至少一片是坏的 B是坏的 A 是好的 至少一片是坏的 B是坏的 A 是坏的 至少一片是坏的 3 芯片测试问题 问题 输入： n 片芯片，其中好芯片至少比坏 芯片多1片. 问题： 设计一种测试方法，通过测试从 n 片芯片中挑出1 片好芯片. 要求：使用最少的测试次数. 4 判定芯片A 的好坏 问题：给定芯片A ，判定A 的好坏 方法：用其他n-1片芯片对A 测试. n=7：好芯片数 4. A 好, 6个报告中至少3 个报“好” A 坏, 6个报告中至少4 个报“坏” n是奇数：好芯片数 (n+1)/2. A 好, 至少有(n1)/2个报“好” A 坏, 至少有(n+1)/2个报告“坏” 结论：至少一半报“好”，A 是好芯片， 超过一半报“坏”，A 是坏芯片. 5 判定芯片A 的好坏 n=8 ：好芯片数 5. A 好, 7个报告中至少4 个报“好” A 坏, 7个报告中至少5 个报“坏” n是偶数：好芯片数 n/2+1. A 好, 至少有n/2个报告“好” A 坏, 至少有n/2+1个报告“坏” 结论：n-1 份报告中， 至少一半报“好”, 则A 为好芯片 超过一半报“坏”, 则A 为坏芯片 5 蛮力算法 测试方法：任取1片测试，如果是好 芯片，测试结束；如果是坏芯片，抛 弃，再从剩下芯片中任取1片测试， 直到得到1片好芯片. 时间估计： 第1片坏芯片，最多测试n-2次， 第2片坏芯片，最多测试n-3次，  2 总计 (n ) 6 分治算法设计思想 假设n为偶数，将n片芯片两两一组做 测试淘汰，剩下芯片构成子问题，进 入下一轮分组淘汰. 淘汰规则： 好, 好  任留1片，进入下轮 其他情况  全部抛弃 递归截止条件：n  3 3 片芯片，1 次测试可得到好芯片.