电子电路的分析与应用 解放军理工大学通信工程学院：高频实验 高频实验三 模拟集成锁相环.doc

PAGE PAGE 15 实验三 模拟集成锁相环 3－1　实验目的 1.　通过实验加深理解锁相环的工作原理和基本性能特点； 　2.　通过实验理解4046集成锁相环的倍频与分频原理。 3－2　实验仪器与器材 一、　实验所需的仪器与器材之一（已购买IST－B智能信号测试仪） 双踪示波器（大于40MHZ）　　　　　　　　 1台 万用表　　　　　　　　　　　　　　　　　　1只 IST－B智能信号测试仪　　　　　　　　 　　1台 二、　实验所需的仪器与器材之二（没有购买IST－B智能信号测试仪） 双踪示波器（大于40MHZ）　　　　　　　　 1台 万用表　　　　　　　　　　　　　　　　　　1只 高频信号发生器　　　　　　　　 　　 　　1台 扫频仪　　　　　　　　　　　　　　　　　　1台 频率计　　　　　　　　　　　　　　　　　　1台 高频毫伏表　　　　　　　　　　　　　　　　1台　　 3－3　实验原理及电路 图3-1 3－4　实验内容与步骤 1.　　将拨动开关JP12置于1、2，接通“模拟集成锁相环”的直流电压＋5V；(上图中JP12未画出)。 2.　　在P7端接入1kHZ的TTL方波信号，（由IST－B功能9产生）； 3.　 将拨动开关JP5、JP6和JP7置于1~2之间； 4.　　用示波器观察P8点的波形； 5.　　选择IST－B的“频率测量”（11号）功能，测量P8点的信号频率； 6.　　用IST－B产生出3KHz的TTL方波信号，用示波器观察P8点的波形；选择IST－B的“频率测量”（11号）功能，测量P8点的信号频率；　 7.　　选IST－B“频率键控”（18号）功能，并设始频为1kHZ，频率间隔为100HZ，按IST-B键盘光标键，用示波器观察P8点的信号频率随P7点方波频率的变化而变化的过程，并测出该琐相环的频率琐定范围。 8.　　将示波器的探头置于P9点，重复步骤7，观察P9点的波形。 9.　　将拨动开关JP5、JP6置于2~3之间，JP7置于1-2之间重复步骤4~8； 　 10． 当拨动开关JP7置于2-3之间时，观察上述过程P8点的波形有何变化。（主要观察锁相环捕捉速度） 3－5　实验报告 1.　整理实验数据，记录当拨动开关JP5、JP6的置于1~2之间和JP5、JP6置于2~3之间时，分别记录P7、P8和P9的频率值； 2.　测量出该锁相环的频率锁定范围。　 3－6　预习要求 进一步熟悉IST－B的功能，特别是本实验所要用到的功能。 2.　复习锁相环的原理，理解倍频与分频原理。 3.　熟悉实验电路，了解实验过程。 3－7　扩展实验与思考题 锁相环实现倍频与分频原理是什么？锁相环的锁定与否与哪些环路参数有关？为什么？ 在步骤7和8中，用示波器观察P8点的信号频率随P7点方波频率的变化而变化，而P9点的信号频率亦随P7点方波频率的变化而变化，两者变化情况有何不同？　　　　　　　　　 　　3.　　当拨动开关置于JP5 的2~3之间，而JP6置于1~2之间时，测量出频率合成器的频率跟踪范围。 4.　　当拨动开关JP7分别置于1~2和2~3之间时，对锁相环的特性有何影响？