发展中的传导发射测量方法.docxVIP

既便如此，也只能测试待测设备的 既便如此，也只能测试待测设备的 EMI总量。 北京电子学会可靠性与质量管理委员会、北京电子电器协会电磁兼容分会 北京电子学会可靠性与质量管理委员会、北京电子电器协会电磁兼容分会 2009年论文集 发展中的传导发射测量方法-介绍一种双电流探头测试法 北京理工大学 区健昌 摘要：简要介绍目前国军标中采用的传导发射测量方法及其历史的演变过程。 为了适应科技发展的需 要,分离传导发射中的共模和差模分量成为当前传导发射测量中的热点问题 。本文在简要介绍各种 共差模分离方案的基础上，着重介绍一种有发展前途的双电流探头测试法。 关键词：传导发射测量；共模和差模分量；双电流探头测试法。 1.传导干扰测试规范的演变和目前存在的问题 对于待测设备（EUT）所产生的EMI（电磁干扰）噪声，国际上通常采用检测其反馈至电源 的EMI电流或电压值来评定该设备是否符合规范要求。这个检测就是传导干扰测试。或称 电源线传导发射测量。电源线传导发射测量方法在国际上经历了漫长的历史演变过程。 但也 可以简单地归纳为，由电流卡钳改变为 LISN测量EMI电压的历史演变过程。见图 1（a）（b）。 10 Pf （a）电流卡钳法 （b） LISN测量法 图1以前和目前的传导干扰规范测试方法 众所周知，供给待测设备的电网电源是随时不断调整的，换句话说， 电网的供电电压及其电网阻抗都随时不断变化。要提高EMI测量精度,惟有 提高测试环境。所以,从电流卡钳改用LISN 测量EMI电压的原因，就是要提 高EM I的测量精度。 电源阻抗稳定网络（LISN）的发明，解决了电网电源和待测设备之间的隔离问题、 不仅如 此,还在测试的频域内创造了一个 50 Q稳定阻抗的测试环境，而这个50 Q阻抗正是测试仪器 的阻抗。换句话说，创造了一个匹配的测试环境，当然也就大大提高 EMI的测量精度。但 随着科技日新月异的发展，对电磁兼容（ EMC ）的要求不断提高，如何在 LISN的基础 上，分别测量共模和差模分量的问题已经成为电磁兼容性设计中的技术要求特别是对于 EMI 滤波器的设计，因此，成为当前国际上的热点问题。 2.共模和差模分量分离网络的研发历史 关于这方面的论文逐年递增，但可简单地归纳为二种方法：分离网络法和双电流探头法。 （1）分离网络法 分离网络法是国外过去 20年来的研究重点，因此有各种各样的分离网络法，分离网络 法的理论依据和计算方法可用图 2分别表示： —：A屜（DM）*川电髀趴川齡轴 Z tEK I 柠电it 图2分离网络法的理论依据和计算方法 可见,将 LISN的“上”输出端干扰电流和“下”输出端干扰电流相加 ，便可获得 共模干扰电流；如将 LISN的“上”输出端干扰电流和“下”输出端干扰电流相减 便可获得2倍的差模干扰电流。 具有代表性的分离网络法有 ： 1）（美）Paul1988 年提出的分离网络 血 血a 该分离网络是靠图右的机械开关转换来选择共模或差模的输出模式 ，实际上，会造 成分离网络的不平衡性，在高频时这种不平衡性，会逐步失去共模或差模的识别功能。 (新加坡)See1999 年提出的分离网络 井関网琳 E塑I崔临机输人舞 图4 See分酉阿堵 取消了转换机械开关，采用两个相连的宽带射频变压器、其副方绕组有中心抽头, 图中所示，该中心抽头的输出端输给 EMI接收机。 (法)Mardiguaian1999 年提出的分离网络 网络简单地采用一个宽带射频变压器完成共模和差模的分离。见图 5 (美)Guo1996年提出的功率变换器方案 (a)2倍共模 (a)2倍共模 (b) 2倍差模 图6 Guo分离网络 它与以上各方案不同之处是，不采用射频变压器处理共模或差模分量 ，而是采用0°和 180°功率变换器来处理共模或差模分量 ,0°变换器将A、B两路噪声并联即进行相加获得 2 倍的共模分量;180° 倍的共模分量; 180°功率变换器将 A、B两路噪声并联即进行相减获得 2倍的差模分量。但 00和1800功率变换器的价格昂贵。 ，见图7。 ，见图7。 图7国际规范的差模插入损耗测量方法 它和以上采用的射频变压器所构成的分离网络一样 ，不是受到在高频运用时的分布参数 影响而频域受到限制外；就是由于制造工艺的复杂、困难，而价格昂贵，难以推广应用。特别是 目前要求测试的频域越来越宽 （越高）的情况下。所以，目前市场上，成熟的分离网络产品尚鲜 为人知。以上各种方法，也缺少有关测试精度和可应用的频域介绍。 （2）双电流探头法 双电流探头法是 2004年（新加坡）Kye Yak See,Junhong Deng作为测量待测设备的输入 阻抗提出来的，但电流双探头法在测试待测设备的输入阻抗的同时 ，也解决了共模和差 模电压的分别测量问题。 1）测量原理