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1 1 衍度射线的 衍射角 材料测试技术课后题答案 1、 大功率转靶衍射仪与普通衍射仪相比，在哪两方面有其优越性？ 答：①提高X射线强度；②缩短了试验时间 2、 何为特征X射线谱？特征X射线的波长与（管电压）、（管电流）无关，只与 邙阳极材料）有关。 答：由若干条特定波长的谱线构成。当管电压超过一定的数值（激发电压 V激） 时产生。不同元素的阳极材料发出不同波长的 X射线。因此叫特征X射线。 3、 什么是K a射线？在X射线衍射仪中使用的是什么类型的 X射线？ 4、 答：L壳层中的电子跳入K层空位时发出的X射线，称之为K a射线。 Ka射线的强度大约是K B射线强度的5倍，因此，在实验中均采用 K a射线。 K a谱线又可分为K a 1和K a 2， K a 1的强度是K a 2强度的2倍，且K a 1 和K a 2射线的波长非常接近，仅相差 0.004?左右，通常无法分辨，因此，一 般用K a来表示。但在实际实验中有可能会出现两者分开的情况。 5、 Al是面心立方点阵，点阵常数 a=4.049?，试求（111）和（200）晶面的面间 距。计算公式为：dhki=a（h2+k2+l2）-1/2 答：d111=4.049/（12+12+12）-1/2=2.338? ; d200=4.049/（22） -1/2=2.0245? 6说说不相干散射对于衍射分析是否有利？为什么？ 7、答：有利。不相干散射线由于波长各不相同，因此不会互相干涉形成衍射， 所以它们散布于各个方向，强度一般很低，它们在衍射工作中只形成连续的背 景。不相干散射的强度随sin （/入的增大而增强，而且原子序数越小的物质，其 不相干散射愈大，造成对衍射分析工作的不利影响。 6在X射线衍射分析中，为何要选用滤波片滤掉 K B射线？说说滤波片材料的 选取原则。实验中，分别用Cu靶和Mo靶，若请你选滤波片，分别选什么材料？ 答：（1）许多X射线工作都要求应用单色 X射线，由于K a谱线的强度高，因 此当要用单色X射线时，一般总是选用K a谱线。但从X射线管发出的X射线 中，当有K a线时，必定伴有 K B谱线及连续光谱，这对衍射工作是不利的， 必须设法除去或减弱之，通常使用滤波片来达到这一目的。 （2） 滤波片的选取原则： 滤波片材料的原子序数一般比 X射线管靶材料的原子序数小1或2; 滤波片的厚度要适当选择，太厚则 X射线强度损失太大，太薄则滤波片作用 不明显，一般控制厚度使滤波后 Ka线和KB线的强度比为600:1。 （3） X射线滤波片的选择：当 Z靶w 40时，Z滤=Z靶-1 ;当Z靶＞40时，Z滤 =Z靶-2. 故Cu靶选28镍片作滤波片；Mo靶选40锌片作滤波 片。 1、 产生衍射的两个基本条件是什么？ 2、 答：产生衍射的两个基本条件：①必须有能够产生干涉的波动即要有 X射线; ②必须有周期性的散射中心即晶体中的原子。 2、画图说明何为衍射峰的积分强度、峰值强度、背景及半高宽。 峰值强 度 1/2峰值 强度 3、 结构因子的计算公式为F=ije2 JIi（hxj+kyj+lzj）,该式表明：结构因子与（晶 胞中原子种类）、（单晶中原子个数）、（原子在空间位置）、（原子散射原子）等 四个因素有关。 4、 X射线衍射产生的条件是什么？ 答：X射线衍射产生的充分必要条件： ?X射线衍射产生的必要条件是必须满足Bragg方程； X射线衍射产生的充分条件是结构因子不等于Oo 1、 XRD粉末样品必须满足的两个条件是什么？ XRD对粉末样品有何要求？ 粉末样品为什么不能太粗也不能太细？ 答：（1）两个条件：①粉末力度均匀；②粉末不能产生择优取向 （2） 粉末照相法的样品安装在相机的中心轴上，样品一般要经过粉碎、研磨、 过筛（250?325目）等过程，样品粒度约为44 um。 （3） 样品不能太粗也不能太细，太粗时被射线照射体积内晶粒数减少，会使衍 射线呈不连续状，由一些小斑点组成；太细时会使衍射线宽化，不便于后续测 量。 2、 XRD对块状样品有何要求？ XRD能否直接测量断面？ 答：待测面必须是平面，若样品可加工，最好加工成20x18的方块。 先将块状样品表面研究抛光，大小不能超过18-20平方毫米，然后将样品用橡 皮泥粘在铝制样品支架上，要求样品表面与铝支架表面齐平。 不能直接测量断面。 1、 说说物相定性分析的程序及注意事项。 答:（1）物相定性分析用粉末照相法和衍射仪法均可进行，其程序是： 先制样并获得该样品的衍射花样； 然后测定各衍射线条的衍射角并将其换算成晶面间距d； 再测出各条衍射线的相对强度； 最后和各种结晶物质的标准衍射花样进行对比鉴定。 （2）物相定性分析的注意事项： 实验条件影响衍射花样，因此，要选择合适的实验条件； 要充分了解样品的来源、化学成分