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霍尔效应实验
主 要 内 容
1. 实验背景、实验目的与实验原理
2. 实验仪器与实验内容
3. 实验思考与实验拓展
磁场的测量
磁场
霍尔效应
特斯拉计-高斯计 霍尔效应
霍尔探头
霍尔效应
什么是霍尔效应?
Edwin Hall 美国 半导体
• 霍尔(Hall)1879年:在长方形导体薄膜上通电流,沿着电
流的垂直方向上施加磁场,就会在与电流和磁场两者垂直
的方向上产生电势差。
• 半个世纪以后人们发现半导体也有霍尔效应,并且比金属
材料还要强
实验原理
• 霍尔效应测量磁场:
霍尔效应装置图
实验原理
• 将一个半导体薄片放在垂直于它的磁场中(B
的方向沿z轴方向) ,当沿y方向的电极A、
A’上施加电流I时,薄片内定向移动的载流
子(设平均速率为u)受到洛伦兹力F 的作用:
B
=
是带电粒子的速度, 是磁感应强度。
• 无论载流子是正电荷还是负电荷,FB的方向
均沿着x的方向,在洛伦兹力的作用下载流
子发生偏移,产生电荷积累,从而产生电位
差和电场。
实验原理
• 由载流子产生的电场对载流子有电场力的作
用:
′
• = = /
– 为薄片宽度
• 当 = − 时,达到稳定状态。
′
– = /
• 薄片BB’两端产生的电压为霍尔电压,电场
为霍尔电场,BB’称为霍尔电极。
实验原理
• 设载流子浓度为,薄片厚度为,电流强度:
= ∗ ∗ ′
′ 1 =
• 由此: =
′
= =
1 ′
– 令 = = ;
• 为霍尔系数,体现了材料霍尔效应大小。
′
– =
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