spc过程控制方法.docx

ISO/TS16949  文件编码： 版次 / 修改： A/0 发布日期： 【SPC 过程控制方法 】 第1 页 共15页 目的 /范围 采用统计技术进行质量分析和控制。 本指导书 适用于项目策划、工序质量控制、不合格品分析及批产品检验等。 定义/术语 SPC ：全称为统计工序控制， 是应用统计技术， 分析过程中的品质特征从而 控制过程的变化。 3．职责 3、1 技质部在过程设计和开发时采用 FMEA ，并确定采用适宜的统计技术方法 进行过程控制。 3．2 技质部采用排列图进行不合格统计分析。 3．3 各部门根据需要选择适用的统计技术。 4．作业程序 4.1 过程能力指数 Cpk、机械能力指数 Cmk及性能指数 Ppk 定义： 过程能力：过程处于控制状态下的实际加工能力。用 6б、表示过程能力指数：为容差宽度除以过程能力。用 Cp Cpk 表示。 当公差的中心值 M与数据分布中心 X相一致时，既 X=M，称过程无偏移，用CP表示，不一致时，称过程有偏移，用 CPK表示。 数据收集： 在过程受控状态下，数据量≥ 100。 计算公式： 第1页共14页 双向公差： T USL – LSL 当 X=M cp= = 6б 6б T–2ε （ USL– LSL）– 2ε 当 X ≠ MCPK= = 6б 6S n S= Σ（Xi –X ）2 I=1 n– 1 式中： T—公差： USL—公差上界线： LSL—公差下界线： S—样本标准偏差。 б—总体标准偏差 =M–X 单向公差： USL-X 只有上限要求 CPU= 3б X -LSL 只有下限要求 CPL= 3б 注： 在利用控制图进行过程能力测定时， б通常由 R/d2 计算而得。 保安项、法规项与重要项的质量特性过程能力指数 Cp/Cpk≥1.33；通过计算 若 Cp/Cpk 值低于规定标准，那么就应该采取纠正措施使该工序能力提高上来，机械能力指数 Cmk 定义：机械能力指数 Cmk 表示公差与生产设备的加工离散之比。 Cmk 值测定的对象：是关键、重要特性的设备、模具。 Cmk 测定的时机： 第2页共14页 ·新的设备 /模具 ·公差紧缩 ·搬迁 ·停产 6 个月以上 ·流程变更 ·设备 /模具大修后 Cmk 值测定数据的收集： 在短时间内测量获得数据，在操作者、工艺方法、环境等非设备因素保持最 佳状态下的质量数据。数据量≥ 100。 计算方法 T T Cmk = = 6б 6s —特性值公差б—总体标准偏差 S —样本标准偏差 USL—公差上限 LSL —公差下线 n S= Σ（Xi –X ）2 I=1 n–1 Cmk≥1.67 ，当 Cmk1.67时，应采取措施使之达到 1.67 以上。 性能指数 Ppk 适用时机：试生产阶段初始过程能力测定 收集数据：一般在数据量≥ 100 连续抽样 第3页共14页 计算公式： T PPk= б S 注：标准要求生产件批准时， PPK≥1、67 4.2 X — R 图（均值和极差图） 使用均值和极差图前的准备： 建立适合于实施的环境。 （必须排除机构内阻碍人们公正的考虑。管理者必须提供资源来参与和支持改进措施。 确定作图的特性。 1）顾客的需求。 2）当前的潜在问题区域。 3）特性之间的相互关系。如果关心的特性很难测量（如：体积） ，选择一个 相关的容易测量的特性（如：重量） 。另外如果一个项目的几个单独特性具有 相同的变化趋势，可能只用一个特性来画就足够了。 收集数据 A． 1 选择子组大小、频率和数据 子组大小（样本） 在过程的初始研究中，一般有 4—— 5 件连续生产的产品组合。样本的容量 应恒定。 子组频率 在过程初始研究，通常连续进行分组或很短时间间隔分组。当过程已处于 稳定状态，子组间的间隔可以增加。对正在生产的产品进行监测的子组频率可 以是每班两次或其他可行的频率。 第4页共14页 子组的大小 至少 25 组（至少包含 100 个或更多的单值读数） A．2 建立控制图及记录原始数据 X-R 图通常将 X 图画在 R图之上方， X 和 R 的值为纵坐标，按时间先后的子 组为横坐标，数据值及极差和均值点应纵向对齐。 数据栏应包括每个读数的空间。同时还包括记录读数的和、均值 X、极差 及日期、时间。 A． 3 计算每个子组的均值 X和极差 R X1+X2+ Xn 对每个子组计算： X= n R=X最大值 -X 最小值 式中： X1、X2... 为子组内的每个测量值， n 为子组的样本容量。 A．4 选择控制图的刻度 两个控制图的纵坐标分别用于 X 和 R 的测量值。对于 X 图，坐标 上的刻 度值最大值与最小值之差应至少为均值的最大值与最小值差的 2 倍。对于 R 图，刻度值应从最低值 0 开始到最大值之间的差值