扫描电子显微镜在纳米材料研究中的应用.docVIP

扫描电子显微镜在纳米材料研究中的应用 自20世纪80年代人们开始研究纳米材料以来，由于其颗粒尺寸的细微（10—100nm)，使其具有许多其它材料所不具备的优异性能，如特有的表面效应、体积效应、量子尺寸效 应和宏观量子隧道效应等，现已成为材料学研究中的热点。纳米材料独特的物理化学性质主要源于它的超微尺寸及超微结构。因此对纳米材料表面形态的观察成为对其研究和应用的基础。目前该领域的检测手段和表征方法可以使用扫描电子显微镜(SEM)、透射电子显微镪TEM)、扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)等技术。扫描电子显微镜(SEM)在纳米级别材料的形貌观察和尺寸检测方面依靠其高分辨率．良好的景深