可靠性试验报告低温存储试验-中日文对照.docxVIP

2014 2014 ZHONGSHAN SUNMING OPTICAL TECHNOLOGIES LIMITED Page PAGE # of 3 低温存储试验报告 报告编号：RT 可靠性鉴定类别 信頼性評定種類 新产品鉴定■ 新材料鉴定口 现有产品重新入级口 新制程鉴定口 客户要求口 其它鉴定口 产品信息 a九情報 样品名称：VCM 样品型号：141E 样品批号：20141218001 样品数量：10pcs 見本名称：VCM 見本型番：141E 見本口少卜：20141218001 見本数量：10pcs 试验人员 試験者 品质部金波 试验时间 試験時間 2014.12.19~2015.1.12 试验设备 試験設備 低温试验箱 低温試験機 试验条件 試験条件 温度范围：-40 土 2 C;时间：500Hr;不加电 温度範囲:-40± 2C ;時間：500Hr;通電。去乜人 测试要求 亍入卜要求 需满足行程，起始电流，磁滞，灵敏度 ，VCM应满足通用规格及性能规格中有关的 规格（行程、起始電流、感度、匕入戶丿少入関係規格、通用規格匕性能 規格总満足） 1?试验方法（試験方法）: 在常温时测量10pcs样品的初始值。将样品放置在-40C的试验箱中240h后 取出，在常温环境放置 2~24h后中测。继续试验至500h后取出样品，在常 温环境放置2?24h后测量特性。 息件处理:500H■40 息件处理:500H ■40 € f -40 °C240 h試験、次Q室温環 境疋2~24 h^放置。尢後測定続 500h試験後、再度室温環境疋 2?24 h放置。尢後特性花測定 2?测试结果（測定結果） 测试项 样品编号、 磁滞 （口 m 最大行程 （口 m） 启动电流 （mA 灵敏度 （（1 m/mA 电阻（Q ） 供参考 动态倾角 （mi n） 1 试验前 3.8 207.6 20 3 24.1 7.7 试验后 9.4 214.2 22 3 24.2 8.2 变化量 147.4% 3.2% 10.0% 0.0% 0.4% 6.5% 2 试验前 2.4 198.1 26 3.1 25.7 2.1 试验后 3.4 190.2 17 3.1 24.2 14.1 变化量 41.7% -4.0% -34.6% 0.0% -5.8% 571.4% 3 试验前 4.3 170.4 29 2.8 23.5 4.6 试验后 3.5 187.6 25 2.7 23.8 12.2 变化量 -18.6% 10.1% -13.8% -3.6% 1.3% 165.2% 4 试验前 2.8 181.6 30 3.1 23.3 1.8 试验后 3 200.2 18 3.1 24.8 15 变化量 7.1% 10.2% -40.0% 0.0% 6.4% 733.3% 5 试验前 4.1 193.9 15 3 22.8 13.2 试验后 3.9 190.4 30 3 23.6 4 变化量 -4.9% -1.8% 100.0% 0.0% 3.5% -69.7% 6 试验前 3.8 182.2 28 2.9 24.5 16.5 试验后 3.5 188.6 27 3 23.9 10.7 变化量 -7.9% 3.5% -3.6% 3.4% -2.4% -35.2% 7 试验前 4.9 204.1 17 3 23.9 8.7 试验后 3.7 190.6 23 2.9 23.5 12 变化量 -24.5% -6.6% 35.3% -3.3% -1.7% 37.9% 8 试验前 4.1 176.2 31 3 23.4 8.8 试验后 2.8 191.6 28 3.1 23.5 11.6 变化量 -31.7% 8.7% -9.7% 3.3% 0.4% 31.8% 9 试验前 3 188.4 27 3 23 4.6 试验后 2.7 205.2 25 3 23.5 1.2 变化量 -10.0% 8.9% -7.4% 0.0% 2.2% -73.9% 10 试验前 3.8 169.6 32 2.9 23.6 10.6 试验后 3.6 216.7 16 3 23.9 9.4 变化量 -5.3% 27.8% -50.0% 3.4% 1.3% -11.3% 3?试验结论（試験結論）: 低温存储试验后样品外观无异常，性能测试结果为 3pcs动态倾角有较大 增幅，其余性能无明显变化。 低温試験後外観总 OK VCM性能結果总3pcs? Dynamic Tilt力?少。減，怎力、?変化肚, 结论（結論）：不判断 确认（確認）： 日期（日期）： 核准（承認）： 日期（日期）：