数字系统测试与可测性设计试验参考指导书ATPG应用样本.docxVIP

数字系统测试与可测性设计试验参 考指导书ATP?用 《数字系统测试与可测性设计》 实验指导书（二） 实验教师： 2012年4月9日 .实验名称和目的 实验名称：ATPG应用 实验目的：了解Mentor公司的FastScan-（ATPG 生成工具）业界最杰出的测试向量自动生成工 具。了解测试各种基准电路的标准输入格式，运 用FastScan工具生成测试向量。深入理解单固 定故障模型相关概念。 .实验前的预习及准备工作： 1、 充分理解课堂上学习的故障模型相关概念。 2、 Mentor公司的测试相关工具的介绍 缩略语清单： ATPG : Automatic Test Pattern Generation ATE : Automated Test Equipment BIST : Built In Self Test CUT : Chip/Circuit Under Test DFT : Design For Testability DRC : Design Rule Check ing PI : Primary Input PO : Primary Output 组合ATPG生成工具FastScan FastScan是业界最杰出的测试向量自动生 成（ATPG工具，为全扫描IC设计或规整的部 分扫描设计生成高质量的测试向量FastSca n 分扫描设计生成高质量的测试向量 FastSc