微波技术与天线实验指导书.docxVIP

微波技术与天线实验指导书 南京工业大学信息科学与工程学院 通信工程系 - - PAGE # - 目录 实验一 微波测量系统的熟悉和调整 - 2 - 实验二 电压驻波比的测量 - 9 - 实验三 微波阻抗的测量与匹配 - 12 - 实验四 二端口微波网络阻抗参数的测量 - 17 - - - PAGE # - 实验一微波测量系统的熟悉和调整 一、实验目的 熟悉波导测量线的使用方法； 掌握校准晶体检波特性的方法； TE10 TE10波的电 二、实验原理 1?传输线的三种状态 对于波导系统，电场基本解为Er Vo e川二Erme」 r In(b/ a) 当终端接短路负载时，导行波在终端全部被反射一一纯驻波状态 慕 _ift ift Ey =Eyosin( — x)e - Eyo sin( — x)e a a 在x=a/2处 Ey =Ey0 (eJft e 汛)二—2Ey°sin 其模值为：Ey =2Ey°sin Pz 最大值和最小值为： Er max =2E r0 Er min =0 终端接任意负载时，导行波在终端部分被反射一一行驻波状态 Ey =Ey0Si n( —x)ef Ey°si n( — x)eft a a 在x=a/2处 Ey =Ey0efit EyQe^ =(Ey0e -Ey0e」厂(Ey0^fit - Ey°efit) = (Ey0—Ey0)e， 2Ey0 cos z 由此可见，行驻波由一行波与一驻波合成而得。其模值为: Ey = j(Ey0 +Ey0)2COS2Pz+(Ey0 _Ey0)2Si 可得到最大值和最小值为: Eymax—Ey0 Ey max —Ey0 -Ey0 Ey min 二 Eyo _Ey° 行波状态（3）终端接匹配负载时，导行波仅有入射波而无反射波 行波状态 Ey 二 Ey°e 其模值为 yoEy yo 由上述可知，在测量线的终端分别接上短路器、 任意负载和匹配负载，移动探针 位置，都可以观测到测量线中不同位置的电场强度（复振幅大小） 对应的电流指 示读数。 2.由测量线的基本工作原理可知，指示器的读数 1是探针所在处|E对应的检波 电流。 任一位置处|E与 I的对应关系应视检波晶体二极管的检波特性而定。一般, 这种关系可通过对二极管定标而确定。 所谓定标，就是找出电场的归一化值|E|与I的对应关系。 E E max E 我们知道，当测量线终端短路时: E =2E0 sin 0z| max sin g 如果我们取任意一零点（波节点）作为坐标起始位置，且坐标用d表示，则: E= 2兀, sin、 d 晶体二极管上的检波电压 u正比于探针所在处|E|。所以上式可用u的归 化值u来表示。即: u 2兀 u‘ = = si n d U max 扎 g 晶体二极管的检波电流I与检波电压u之间的关系为: I = cun 式中c为比例常数，n为检波率。 n . ,-2 兀. I = csin —d -g 式中C‘为比例常数。 3.当测量线的探针插入波导时，在波导中会引入不均匀性，从而影响系统的工 作状态。 探针在开槽线中与电场耦合，其效果相当于在等效传输线上并联了一个探针 支路。即探针等效为一个导纳yp二gp -jbp。其中gp反映探针吸收功率的大小， bp表示在波动中产生反射的影响。在信号和测量系统匹配的条件下，由于 gp的 分流作用，驻波波腹点的位置发生偏移。但当终端断路时，波节点不偏移。可见, gp和bp将造成误差。为了减小测量误差，必须要减小或消除 gp和bp的影响。减 小gp的影响，可以适当减小探针插入的深度；消除bp的影响要依靠调谐来达到。 探针的调整办法： 1 ? 在信号源有足够输出和检波指示器有足够的灵敏度的条件下， 应尽量 取较小的探针插入深度。 2. 将测量系统短路时，将探针移至相邻两个波节之间正中位置（即波腹 点上），调节探头的调谐活塞，直至输出指示最大。此时 bp已达到最 小。 需要指出的是，当信号源的频率或探针插入深度改变时，必须重新对探针进 行调整。 - - PAGE # - 三、实验仪器及线路图 四、实验内容与步骤 1．调整测量线 （ 1） 开启信号源。对波导系统的 XB9A 操作时，直接打开“电源”开关即可， 经过 20 分钟左右信号输出稳定。 （2） 按图 1－1连接实验线路图（接短路器） 。 （ 3） 调节探针位置，使指示器读数为最大（此时探针位于波腹点） 。 （ 4） 调节探针插入深度， 同时调整调谐活塞，使指示器读数最大，且达到满刻 度的 2/3 量程以上。 2．绘制晶体定标曲线 （1） 用交叉读数法测量波导波长 入g,并确定任一波节点位置 Dmin （坐标d的 起始位置）。如图 1 －2 所示。 （2） 在相邻的波节点与波腹点之间大约