霍尔效应与磁场测定.docxVIP

霍尔效应与磁场测定 置于磁场中的载流体，如果电流方向与磁场垂直，则在垂直于电流和磁场的方向会产生一附加的横向 电场，这个现象是霍普斯金大学研究生霍尔于 1879年发现的，后被称为霍尔效应。随着半导体物理学的 迅速发展，霍尔系数和电导率的测量已成为研究半导体材料的主要方法之一。通过实验测量半导体材料的 霍尔系数和电导率可以判断材料的导电类型、载流子浓度、载流子迁移率等主要参数。若能测量霍尔系数 和电导率随温度变化的关系，还可以求出半导体材料的杂质电离能和材料的禁带宽度。如今，霍尔效应不 但是测定半导体材料电学参数的主要手段，而且随着电子技术的发展，利用该效应制成的霍尔器件，由于 结构简单、频率响应宽（高达 10GHz）、寿命长、可靠性高等优点，已广泛用于非电量测量、自动控制和 信息处理等方面。在工业生产要求自动检测和控制的今天，作为敏感元件之一的霍尔器件，将有更广阔的 应用前景。了解这一富有实用性的实验，对日后的工作将有益处。 【实验目的】 ?掌握测试霍尔元件的工作特性。 ?学习用霍尔效应法测量磁场的原理和方法。 ?学习用霍尔元件测绘长直螺线管的轴向磁场分布。 【实验原理】 1霍尔效应法测量磁场原理 霍尔效应从本质上讲是运动的带电粒子在磁场中受洛仑兹力作用而引起的偏转。当带电粒子（电子或 空穴）被约束在固体材料中，这种偏转就导致在垂直电流和磁场的方向上产生正负电荷的聚积，从而形成 附