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SS品质衡量指标 1.前言 产品品质特性的记录一样分成计数值或计量值，计数值又以计件或计 点为记录，计量值以实际量测之特性值为记录。自从工业界导入 MIL-STD- 105D表为抽样检验的标准后，品质指标一直延用 MIL-STD-105D表之AQ L，目前使用版本为MIL-STD-105E，多年来一直通行于工业界。AQL在1 0以下时，可表计件的不良率或计点的缺点数， AQL在10以上时，则表计 点的缺点数或每百件缺点。计量值则以制程能力指数 Cp、k （Ca）、Cpk为 代表。这些品质指标的大小，理论上是能够讲明其品质意义，譬如AQL = 0. 3% （以计件不良率表示）其意义为当检验批的品质水准不良率 p达到0.3% 时，该批以MIL-STD-105E表验收时，被允收的机率专门高约 95%以上， 但检验批的实际不良率p太大时；如1%、2%,则检验批被允收的机率专 门小。因此，AQL常被用来当成制程的品质指标，以保证交货（交易）时 的允收率。制程能力指数也被拿来衡量产品试作及量产时品质稽核的指标。 有些客户要求供应商在试作时期及量产时期提报产品或制程的管制特性， 其Cp或Cpk值在多少以上，才能保证不良率 p在多少以下。 本例为不同的运算基础，对品质指标的衡量是有所不同的 产品不 检点数/件 生产 件数 不良 件数 合计 缺点数 不良率 dpu dppm A 100 点 /件 100件 5台 10点 5% 0.1dpu 1000 B 10 点 /件 1000件 10台 20点 1% 2dpu 2000 C 5点/件 2000件 15台 30点 0.75% 0.015dp u 1500 如果以件为运算基础 P= (5+10+15)/(100+1,000+2,000) =30/3,100 =0.0097 =0.97% =9700ppm (即表示每100万件平均有9700台是不良) C =（10+20+30”（100+1,000+2,000） =60/3,100 =0.019 dpu （即表示每件平均有0.019个缺点） l 如果以检点为运算基础 u=(10+20+30)/( 100 x 100+10X 1,000+5X 2,000) =60/30,000 =2,000 dppm (即表示每100万个检点平均有2000个缺点) 100万个检点为单位，因此要两个 pp 以上的讲明以100万件为单位及 m的品质指标互相比较就有所出入。 以上的讲明以100万件为单位及 m的品质指标互相比较就有所出入。 2.各种品质指标的定义及运算例 近年来，资讯电子业受到所谓“ marki ng）的阻碍，大伙儿纷纷采纳“ 的计量单位，然而对这一些新的名词及术语的定义及运算方法不同行业有 不同的讲法造成业界随客户的要求而无所适从。以下介绍目前流行于业輸入10必片 界的一些品质指标名词及术值计件的品质輸入10必片l制程良率（Yield）: 的计量单位，然而对这一些新的名词及术语的定义及运算方法不同行业有 不同的讲法造成业界随客户的要求而无所适从。以下介绍目前流行于业 輸入10必片 界的一些品质指标名词及术 值计件的品质 輸入10必片 l 制程良率（Yield）: 样以一制程之投入产品件数与该制程输出良品的 件数之比率。如（（图2-1）讲明。 * ▼ 1 r 輸出991片 輸出980片 輸出950片 輸出920片 輸出910片 輸出900片 【图2-1】不可修理的制程 压模制程良率二输出良品件数/输入产品件数=991/1000=99.1% 涂装制程良率二输出良品件数/输入产品件数=980/991=98.9% 印刷制程良率=输出良品件数/输入产品件数=950/980=96.9% 喷涂制程良率=输出良品件数/输入产品件数=920/950=96.8% 冲型制程良率=输出良品件数/输入产品件数=910/920=98.9% 终检制程良率=输出良品件数/输入产品件数=900/910=98.9% 全制程良率=输出良品件数/输入产品件数=900/1000=90.0% 以上适用于电子零件、半导体等制程，其不良品无法修理而报废者 装配厂的制程，其不良品大致上都能够修理，修理好的产品，再回线测试，连续装配，如此要定义其良率应以各制程的初检通过率吧样FrSt呷ime Yield ； 輸入1000 装配厂的制程，其不良品大致上都能够修理，修理好的产品，再回线测试， 连续装配，如此要定义其良率应以各制程的初检通过率吧样FrSt呷ime Yield ； 輸入1000片 FTY)较为合 *(壓複 制程投入产品件数与第一次 初检通过率(First Time Yield ； FTY) 检验就通过之件数之比率。如(图2-2)讲明。卄 不良9片 不良口片 还罠30片 不良30片 不良10片 不