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一、 X 射线物相分析的基本原理与思路
在对材料的分析中我们大家可
能比较熟悉对它化学成分的分析 , 如某
一 材料 为 Fe96.5%,C 0.4%,Ni1.8% 或
SiO2 61%, Al 2O3 21%,CaO 10% ,FeO 4%
等。这是材料成分的化学分析。
一个物相是由化学成分和晶体结构两部
分所决定的。 X 射线的分析正是基于材
料的晶体结构来测定物相的。
X 射线物相分析的基本原理是什么呢 ?
每一种结晶物质都有自己独特
的晶体结构 , 即特定点阵类型、 晶胞大
小、 原子的数目和原子在晶胞中的排列
等。因此 , 从布拉格公式和强度公式知
, 当 X 射线经过晶体时 , 每一种结晶物质都有自己独特的衍射花样 , 它们的特征能够用各个反射晶面的晶面间距值
和反射线的强度来表征。
其中晶面网间距值 d 与晶胞的
形状和大小有关 , 相对强度 I 则与质点
的种类及其在晶胞中的位置有关。
衍射花样有两个用途 :
一是能够用来测定晶体的结构 , 这是比较复杂的 ;
二是用来测定物相。
因此 , 任何一种结晶物质的衍射数
d 和 I 是其晶体结构的必然反映 , 因而能够根据它们来鉴别结晶物质的物
相,
分析的思路
将样品的衍射花样与已知标准物质的衍
射花样进行比较从中找出与其相同者即
可。
X 射线物相分析方法有 :
定性分析——只确定样品的物相是什
么?
包括单相定性分析和多相定性分析
定量分析——不但确定物相的种类还要
分析物相的含量。
二、 单相定性分析
利用 X 射线进行物相定性分析
的一般步骤为 :
① 用某一种实验方法获得待测试
样的衍射花样 ;
② 计算并列出衍射花样中各衍射
线的 d 值和相应的相对强度 I 值;
③ 参考对比已知的资料鉴定出试样的物相。
1、 标准物质的粉末衍射卡片
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标准物质的 X 射线衍射数据是 X 射线物相鉴定的基础。为此 , 人们将世界上的成千上万种结晶物质进行衍射或照相 , 将它们的衍射花样收集起来。由于底片和衍射图都难以保存 , 而且由于各人的
实验的条件不同 ( 如所使用的 X 射线波长不同 ) , 衍射花样的形态也有所不同 , 难以进行比较。因此 , 一般国际上统一
将这些衍射花样经过计算 , 换算成衍射
线的面网间距 d 值和强度 I, 制成卡片
进行保存。
卡片最早是由 J. D. Hanawalt 于 1936
年发创立的 , 1964 年由美国材料试验协
( Amerian Society for Testing Materials) 接管 , 因此过去称为 ASTM
卡片或 PDF卡片 ( Powder Diffraction
File) 。
当前这套卡片由”国际粉末衍射标准联
合会” ( Joint Committee on Powder
Diffraction Standards) 与美国材料
试验协会 ( ASTM) 、 美国结晶学协会
( ACA) 、 英国物理研究所 ( IP) 、 美
国全国腐蚀工程师协会 ( NACE) 等十个
据。至 1985 年出版了 46000 张卡片 , 而且在不断补充。现在已能够经过光盘进行检索。
另外一些专门的部门或组织也出版
一些用于特定领域的 X 射线粉末衍射数
据集。如中国科学院贵阳地球化学所编
的《矿物 X 射线粉晶鉴定手册》
JCPDS卡片的格式
(3)
辐射光源
波长
滤波片
相机直径
所用仪器可测最大面间距
测量相对强度的方法
( 衍射仪法、 强度标法、 目估法等 ) ;
I/Icor 最强衍射峰的强度与刚玉最强
峰的比强度。
数据来源
样品来源、 制备方法、 升华温度、分解温度等
JCPDS(PDF)衍射数据卡片分为有机和无机两类 , 常见的形式有三种 ,
专业协会联合编纂。称 JCPDS卡片。是 一是 卡片 ;
当前上最为完备的 X 射线粉末衍射数 二是微缩胶片 ;
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第三种是书 , 将所有的卡片印到书中
,
单质 )
及有机化合物是分开编排的。
每页能够印 3 张卡片。
重点介绍使用哈那瓦尔特索引来
现在已能够经过光盘进行检索
鉴定未知物相的方法和过程。
要从成千上万张卡片中查对物
哈氏 ( Hanawalt)
索引 :
相是十分困难的 ,
必须建立一个有效的
在哈氏索引中 ,
第一种物相的数
索引。
据占一行 ,
成为一个项。由每个物质的
2、 JCPDS卡片的索引
八条最强线的 d 值和相对强度、
化学
JCPDS包括检索手册和卡片集两大部分
式、 卡片号、 显微检索号组成
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