现代微分导论1-2 (4).ppt

结晶度测定根据： 总衍射强度 = 晶相与非结晶相衍射强度之和 Ac ：晶相的衍射面积 Aa ：非晶相的散射面积 Ic 衍射角2? 背景 Ia 衍射强度 晶区衍射 非晶区衍射 Ic Ia Ｘ射线衍射谱由连续背景以及叠加在背景上一些谱线所组成,谱线亦称衍射线或衍射峰。在衍射谱分析工作中,最主要的是判断总共有多少衍射线,它们的位置、峰宽和强度。 背景产生的原因,可归纳如下： ① 各种干扰Ｘ射线；② 2θ = 0的衍射峰；③ 自然界的放射性发射。④ 检测器电子学系统的热噪声。 晶体衍射图谱 扣除背景,是对各衍射峰进行分析的前提 晶粒粒度测定 Scherrer（谢乐）公式 t ：在hkl法线方向上的平均尺寸（?） k ：Scherrer形状因子：0.89 B ：衍射峰的半高宽（弧度） 2? ? 得到Scherrer公式的方法之一是借用Bragg公式对?进行微分： 2tsin? = ? 2tcos??? = ? 实际峰宽应为零，故半高宽反映了?的变化，令半高宽为B = 2?? = ?(2?) 故有： 以半高宽代表?的变化出自三角形模型。如采用高斯分布，则应乘一系数： B B Scherrer（谢乐）公式 * 物相定量分析，就是用X射衍射方法来测定混合物相中各种物相的含量百分数，这种分析方法是在定性相分析的基础上进行的，它的依据在于一种物相所产生的衍射线强度，是与其在混合物样品中的含量相关的。 5.1.2 物相定量分析 * 1．定量分析基本公式 2．直接对比法（单线条法） 3．内标准法 4．基体清洗法（K值法） 5．任意内标法 6．绝热法（自清洗法） * * 定量分析的基本公式 ?i、ρi、μmi分别为第i相的重量百分数、密度和质量吸收系数。 * 外标法 如试样含有n 相(n≥2)，它们的μm和ρ均相等，则对于待测定的第j 相，式变成： 上式说明，待测定相的质量分数ωj与其线条的强度成正比。为了避免直接计算C，用纯j 相做标样。对标样来说，ωj=100%=1，其强度为： 将两式相比得： * 式说明，混合物试样中j 相的某一衍射线的强度，与纯j 相试样的同一衍射线条强度之比，等于j 相在混合物中的质量分数。例如，当测出混合物中j相的某衍射线的强度为标样同一衍射线强度的50%时，则j 相在混合物中的质量分数为50%。但是，影响强度的因素比较复杂，常常偏离式的线性关系。 实际工作中，常通过测定由已知不同重量比配制的混合物的X 射线衍射图谱建立不同相重量比与这两相某一特征衍射线条比的标准曲线，并利用此标准曲线进行两个相的定量分析（类似于直接对比法）。这是一种很实用的方法，在科学研究中被广泛采用。 * 如果混合物由两相组成，它们的质量吸收系数不相等，则(5-49)式变成： 因 故 假定试样为纯的第1 相，其衍射线强度为(I1)0，则得： 将两式相除得： 如混合物中两相的质量吸收系数(μm)1和(μm)2已知，则实验测出两相混合物中第1 相衍射线的强度I1和纯第1 相同一衍射线的强度(I1)0之后，由式就能求出混合物中第1 相的质量分数ω1。 * 内标法 若混合物中含有n 个相(n＞2)，各相的μm不相等，此时可往试样中加入标准物质，这种方法称为内标法，也称掺合法。显然，该法仅适用于粉末试样。 如加入的标准物质用s 表示，其质量分数为ωs；被分析的相分1 在原试样中的质量分 数为ω1，加入标准物质后为ω1'，则式变成： * 假如在每次实验中保持ωs不变，则(1-ωs)为常数，而ω1'=ω1(1-ωs)。对选定的标准物质和待测相，ρs和ρ1均为常数，因此，式可以写成： 其中 上式说明，待测相分1 的某条衍射线强度I1和标准物质衍射线条Is之比，与待测相分1 在原试样中的质量分数ω1成线性关系。用内标法进行定量分析时，需事先配制一组试样绘制定标曲线。这组试样中，含有质量分数恒定的标准物质和含量有规律变化的相分1。对它们进行摄照，测定每个试样的I1/ I s后，就可作出定标曲线。反之，在测出待测试样的I1/ I s后，利用定标曲线可求出ω1。 * 第一节 物相定性分析 物相分析的方法主要有： 1.金相分析法 （光学显微镜观测、电镜、显微硬度）形貌 2.X-射线或电子衍射分析法（定性定量分析物相） 3.电化学-化学分析法（定量分析各相中的化学成分） 4.电子探针微区法 形貌+成分 第六章 单晶分析法与荧光光谱分析 材料性能与材料结构之间有着明显的的因果关系 物相包括元素存在的状态和结构等内容 * ? 每一种结晶物质各自都有自己独特的化学组成和晶体结构，没有任何两种结晶物质它们的晶胞大小、质点的种