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2010~2012年MEMS发展报告
RFMEMS
第一章 绪论
RFMEMS是指利用MEMS技术加工出来的尺寸在微米到毫米量级的射频器
件,能够对射频信号进行控制。和传统的射频器件相比, RFMEMS器件不单尺
寸更小,更为容易与单片电路集成,性能上也有了大的提高(比如低插损、线性、宽带、低功耗),可替代传统的PIN二极管和同类铁氧体产品。)
按照RFMEMS研究层面的不同,能够将其分为三类:基本器件:微机械开关,可变电容,电感,谐振器。组件层面:移相器,滤波器,压控振荡器。
系统层面:接收机,变波束雷达,相控阵天线。
RFMEMS器件的工作频次如下:
1)RFMEMS开关、变容器和电感器,可工作在DC~120GHz范围。
2)微加工传输线、高Q谐振器、滤波器和天线,适合于12~200GHz
范围。
3)FBAR(薄膜体声谐振器)和滤波器,直到3GHz都表现出优秀的性能和高Q值(2000)。
4)RF微机械谐振器和滤波器,在0.01~200MHz性能较好并有高Q值
8000)。
图1给出了RFMEMS器件工作频次范围。
图1RFMEMS器件工作频次范围
图2给出了RFMEMS技术的应用领域和范围;图3给出了RFMEMS
开关的应用领域。
图2RFMEMS的应用领域与应用范围
图3RFMEMS开关的应用领域
第二章技术发展
2.1外国RFMEMS技术发展现状
外国RFMEMS开关的研究
1990~1991年,在DARPA(美国国防预先研究计划署)资助下,位于加州Malibu的Hughes(休斯实验室)研制出微波控制的第一个MEMS开关(和变容器)。它证实了直到50GHz范围内MEMS开关的优秀性能,比用GaAs器件实
现的任何开关性能都要好得多。到 1995年,Rockwell(罗克韦尔)科学中心和
TI(德州仪器)企业均研制出性能优秀的RFMEMS开关。Rockwell开关是金属-金属接触式的开关,适合于DC~60GHz应用,而TI开关是电容式接触开
关,适合于10~120GHz应用。1998年,Michigan(密歇根)大学、UCBerkeley(加州大学伯克莱分校)、Northeastern(东北)大学、MIT(麻省理工学院)材料实验室、Columbia(哥伦比亚)大学、ADI(模拟器件)企业、NorthrupGrumman企业等都积极研究RFMEMS器件。
2001年,30多个企业都从事RFMEMS研究,其中包括消费电子产品的巨
人,如Motorola(摩托罗拉)企业,AnalogDevices(模拟器件)企业,Samsung(三星)企业,Omron(奥姆龙)企业,NEC企业和ST-微电子(意法半导体企业)。2003年密歇根大学的DimitriosPeroulis等人采用三层梁构造,加大电极
区面积以及蛇形梁降低弹性系数的方法实现了低驱动电压开关,驱动电压低至
6V。
2005年新加坡南洋理工大学的 A.B.Yu等人为了提高MEMS开关的隔绝度,
采用分两步旋涂光刻胶的方法,首先在地线和信号线之间用光刻胶填满缝隙,
再在其上旋涂光刻胶牺牲层,这样能够保证牺牲层表面的平整度,提高开关电
容比,进而提高隔绝度。和一般的开关相比,该开关在 15GHz频次时隔绝度提
高了2.2dB,在40GHz频次时隔绝度提高了10dB。
2006年,英国帝国理工学院的 SuneatPranonsatit等人研制了一种单刀八掷开
关,平均接触电阻为2.5Ω,20GHz频次下的插入损耗为2.65dB,隔绝度31dB,
这是第一个真实的单刀多掷 RFMEMS旋转开关。
2007年,DavidA.Goins等人开发了一种性能优秀的接触式开关,它在DC~20GHz频次上都能优秀地工作,插入损耗小于0.4dB,20GHz时的隔绝度为
25dB。
2008年,法国的M.Fernandez-Bolanos等人研制了一种电容式开关,为了防备在Si/SiO2衬底上形成反型层,在硅衬底上生长了一层无定型硅,防备电子积
累。进一步的,在信号线和地线之间进行了下刻蚀,去除了信号线邻近的部分
硅衬底,防止了在信号线了地线之间形成信号通道。在该开关中采用 TiO2作为
介电层材料(介电常数=20),获得高电容比。该开关的电容比为 200,驱动电压
为8V。
2008年,澳大利亚新南威尔士的 HamoodUrRahman设计的新颖构造的接触
式开关,驱动电压低至6.29V,40GHz频次范围一下的插入损耗为 0.37dB,隔绝
度23.5dB。
2009年,JaehongPark等人为了防止接触式开关(包括金属 -金属构造和MIM
构造)的微焊接和粘附等有关问题,采用梳齿构造 (1000对梳齿)进行驱动。该
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