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ECC 纠错算法在存储式测井仪器中的应用 摘 要：存储式测井仪器在工作过程中把测井数据存 储到本地，测井完毕后把数据读出到 PC 机进行处理。仪器 采用 NAND_Flash 作为存储介质，使用 ECC?m 错算法对存 储到 NAND_Flash 中的数据进行校验和纠错是非常重要的工 作，文章使用 STM32 实现了 ECC 纠错算法。 关键词：存储式； NAND_Flash ECC 纠错算法； STM32 引言 目前世界上主流的非易失闪存技术分为 NAND 和 NOR ， NAND 结构以其极高的存储密度，极快的写入和擦除速度， 占领了中大容量存储器的市场，我公司存储式测井仪器的存 储体便采用 K9F2G08U0C 作为存储介质，典型的 NAND_Flash 。 ECC 全称 Error Checking and Correction ，是常用的对 NAND_Flash 进行校验和纠错的算法，其只能纠正 1bit 的错 误，检测出 2bit 以内的错误，对 2bit 以上的错误不能保证检 测。由于 NAND_Flash 的出错模式一般不会整个 Block 或者 Page 全部失效，而是某一个 bit 发生错误， 故 ECC 纠错算法 对 NAND_Flash 的纠错效果非常理想。 算法详细介绍 ECC 校验每次对 256字节的数据进行操作， 形成一个 256 行、8列的矩阵，矩阵