常规测试仪器及方法介绍.docx

常规测试仪器及方法介绍 Parti. 物质检测常见仪器 物质类别 常见測试仪器 有机高分子 红外光谱分析 FTIR 热分析 红外拉曼光谱 有机小分子 气相色谱质谱 GC?MS（攻空） 液相色谱质谱 LC-MS 紫外-可见光分析 UV-Vis 无机^金属 X射线衍射 （晶体分析） 能谱分析 EDS 扌粉析 金属材料 电感耦合发射光谱分析 ICP 原子吸收光谱 AAS 直读光谱 定性半定量仪器 XRF筛选测试 ?仪器名称：X射线荧光光谱仪 ?筛选物质：铅（Pb ） ,镉（Cd ），汞（Hg ），总铭（ Cr）和总漠（Br）等元素  XRF工作原理 材料中原子被高能x射线激发后，会以x荧光的形式释放出能量，而不 同元素的原子所释放出的X荧光的波长和能量是不同的。因此利用检测样品 被激发后释放的X荧光的波长或能量，就可以对样品中所含元素进行定性； 检测X荧光的强度就可以对元素进行定量。 X-ray tube X-ray beam 、 Incident X-Rav . from Source Ejected Elecnon sample X光蚩光 SEM-EDS 分析 ?仪器名称：扫描电镜能谱仪 ?测试物质：石棉、耐火陶瓷纤维等物质 pm 18灾 SE MAG: 686 x HV: 15.0 kV WD; 1X4 mm 红外光谱分析 材料鉴定方法一一FTIR （傅立叶变换红外光谱分析） 1=1物质因受红外光的作用，引起分子或原子基团的振动（热振 1=1 动）,从而产生对红外光的吸收。利用物质对不同波长红外光的吸 收程度进行分析物质分子的组成和结构。 定量仪器 ICP-OES 分析 ?仪器名称：电感耦合等离子原子发射光谱仪 ?测试物质：铅（Pb ） ,镉（Cd ），汞（Hg ），总絡（ Cr）等金属元素  GC-MS分析 ?仪器名称：气相色谱■质谱联用仪 测试物质：多漠联苯、多漠二苯醍、邻苯二甲酸酯、多 ■ IV!X! 环芳蛭等挥发性物质 LC-MS?MS分析 ?仪器名称：液相色谱质谱联用仪 ?测试物质:PFOS、PFOA等物质 279.13 Q1 Peak Width- 0.06 Da FWHM 7.4 279 25 27M 279.2 271.4 271.6 1! 9 2 9 177 237 V 149 2 )5 、 279 _L 10； 200 30。 nw 100 着51 I uv，s 攀 ?邕a普風：謂(c「6+) / ^ss RoHS RoHS测试标准更新-待发布标准 Ro H S测试标准更新一已发布标准 , 62321-1 / 简介和概述 62321-2 〉-样品的拆卸、拆解和机械拆分 62321-3-1 \ -使用X射线荧光光谱仪对电子产品中的铅、汞、镉、总铭和总漠进 / 行筛选 62321-3-2 \ -使用C-IC对聚合物和电子产品中的总澳进行筛选 62321-4 \ -使用CV-AAS、CV-AFS、ICP?OES和ICP-MS测定聚合物、金属和 /电子材料中的汞 62321-5 \ -使用AAS、AFS、ICP?OES和ICP?MS测定聚合物和电子材料中的 T/汞镉、铅和铭，以及金属中的镉和铅 62321-6 \ -范围：使用GC?MS、IAMS和HPLC?UV测定聚合物和电子材料中 /的多澳联苯和多澳联苯醒 62321-7-3 ? -范围：通过比色法测定金属无色和有色的防腐镀层中六价铭的存在  62321-3-31.062321-9-预计公布时间：2018-12 62321-3-3 1.0 62321-9 -范围：使用C-IC对聚合物和电子产品中的氟、浪、氯进行筛选 一预计公布时间：2018?12 -范围：使用PY-GGMS、TD-GC-MS对聚合物中的多漠联苯、多漠二 苯醒、特定邻苯二甲酸盐进行筛选 -预计公布时间：2017?4 -范围：通过比色法测定聚合物和电子材料中的六价铭 -预计公布时间：2017?9 -范围：通过质谱测定高分子材料中的特定邻苯二甲酸盐 -预计公布时间：2017-12 -范围：通过高效液相?质谱法测定高分子材料中的六澳环十二烷 -预计公布时间：2018-6 -范围：通过气象色谱-质谱法测定聚合物和电子材料中的多环芳姪 在所有的部分单独成文之前，未进行更新为单独部分发布的IEC 62321:2008内容有效 欧盟RoHS2.0测试方法动态 2008年12月11日,国际电工委员会(IEC)发布了IEC6232L2008。该标准是关 于电子产品中特定有害物质测定的国际标准，被业界用于验证电子电气产品是否符 合欧盟RoHS有害物质限制要求。IEC62321:2008是一个’独立’的标准，自2013 年5月17号起该标准被拆分为一系列标准，同时导入新的测试方法或仪器。随着新 标准的发布,业界