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统计过程控制;质量管理发展历程;什么是统计学？ 《中国大百科全书》:统计 学是一门社会科学 《大英百科全书》:统计学是根据数据进行推断的艺术和科学 那到底何谓统计?; “数据”通过“计算”产出“有意义的情报”就是统计.;目的: 是用来评估过程稳定性,并测量或描述 过程变差的特征;测量结果指出过程是 处于稳定和“受控”或“不受控”的状态;;变差是什么？;变差的例子 你的操作有变化 机器有变化 你的仪器有变化 产品的质量特性有变化;变差的起源……;管制图类型;SPC使用的场合？;接上页;我们为什么实施SPC?;SPC常用术语解释;名称;名称;作用 ;X-R 均值和极差图;正态分布篇;∑ ;∑ ;;;S ;练 习 给定样本： 10,16,18,20,27,15,14,8.求样本标准差 ;R= X - X;练 习 给定样本： 10,16,18,20,27,15,14,8.求极差 ;什么是正态分布 ?;;;规格范围 合格概率 缺陷概率 +/-1 68.27% 31.73% +/-2 95.45% 4.55% +/-3 99.73% 0.27% +/-4 99.994% 0.0063% +/-5 99.99994% 0.000057% +/-6 99.9999998% 0.000000198%;如何计算正态分布和“工序西格玛 Z” ?;USL - μ;LSL - μ;从上述公式可看出,工序西格玛值是平均值与规格上下限之间包括的标准差的数量,表示如下图:;通过计算出的Z值,查正态分布表,即得到对应的缺陷概率.;;正态分布的位置与形状与过程能力的关系图;;分布位置及形状均不理想 ;;;控制图制作篇;贝尔实验室的Walter休哈特博士在二十世纪二十年代研究过程时,发明了一个简单有力的工具,那就是控制图,其方法为:;控制图-控制过程的工具;计量型控制图的计算公式;计数型控制图的计算公式;X;;? 日期 ;制作 的准备 ;制作均值极差图;;;;R;计算均值图控制限;计算极差图控制限;X-R图常数表 ;将计算结果绘于;注意事项;3.要在适当的时间内收集足够的数据，这样子组才能反映潜在的变化，这些变化原因可能是换班/操作人员更换/材料批次不同等原因引起。对正在生产的产品进行监测的子组频率可以是每班2次，或一小时一次等。 4.子组越多，变差越有机会出现。一般为25组，首次使用管制图选用35 组数据，以便调整。 ;课 后 练 习;分析控???图;;;X 图上的数据点超出上下控制界限的可能原因： 控制界限计算错误 描点错误 测量系统发生变化 过程发生变化 ;;;;;;;;控制界限计算错误 描点错误 测量系统发生变化 过程发生变化 过程均值发生变化 抽样数据来自完全不同的两个整体;R 图;控制界限计算错误 描点错误 测量系统发生变化 测量系统分辩率不够 过程发生变化;R 图;R 图;R 图;R 图;R 图;R 图;R 图;描点错误 测量系统发生变化 质量特性分布发生变化 过程发生变化过程均值发生变化 抽样数据来自完全不同的两个整体;X –MR Chart;收集数据 进行测量系统分析 确定子组容量（X-MR图的子组容量为1） 确定子组频率 确定子组数（X-MR图需子组数达100个以上，这样可以全面判断过程的稳定性）;计算MR值;将 X 和计算出的MR值分别绘在X图上和MR图上;;计算移动极差均值;计算单值图控制限;计算极差图控制限;X-MR图常数表 ;课 后 练 习;控制界限的更换篇;控制界限建立以后并非一成不变，因为过程永远是处于波动的，因此控制界限需定期检讨，以判断是否需要更换控制界限，检讨控制界限的周期，应根据过程变化而定。;过程流程发生变化时：;使用新的设备：;现有过程发生失控，经过改善过程重新受控后：;对过程普通原因进行改善后：;当子组容量发生变化时：;分析过程能力篇;分析过程能力的前提：;计算稳定过程能力指数- CP （不考虑过程有无偏移）;常数表;计算过程实际能力指数 CPK ，（它考虑了过程输出平均值的偏移）;;练 习;对能力分析的解释……;; (计数型);计数值控制图用来控制不可以用计量数据度量的特性，通常而言，用于合格与不合格，通过与未通过，良品与不良品等。;计数值控制图种类; P-Chart 不合格率图(计数型);P;;UCL; 课 后 练 习 根据下列数据,作出P图;分析